[发明专利]半导体集成电路、控制方法及信息处理装置

说明书

相关申请的交叉引用

本申请基于2008年5月30日提交日本专利局的在先的日本专利申请 第2008-142072号并要求享有其优先权，通过引用将其全部内容合并在此。

技术领域

本发明涉及半导体集成电路、控制方法以及用于该半导体集成电路中 的错误分析的信息处理装置。

背景技术

近年来，随着半导体集成电路的制造工艺的微细化，电源噪声对半导 体集成电路的操作的影响(例如，由于电源噪声对微细化的电路配线的影 响而导致的误操作)日益增加。为了应对电源噪声，首先优选的是，对导 致误操作的电源噪声进行精确的观测。

作为电源噪声的观测方法，公开了一种经由探针而将示波器连接到半 导体集成电路或安装有该半导体集成电路的电子板并进行观测的方法。这 种将示波器连接到半导体集成电路的外部并进行观测的方法具有以下缺 点。例如，难以从半导体集成电路的外部观测在该半导体集成电路(例如， 具有以高速操作的算术处理单元的中央处理单元(CPU)、或与该CPU一 起以高速操作的芯片组)中所产生的高频电源噪声。即，高频电源噪声不 仅易被衰减而且具有与一般的信号不同的无意义的随机模式。因此，难以 使用连接到半导体集成电路的外部的示波器来观测在半导体集成电路中 所产生的高频电源噪声。因此，为了易于观测高频电源噪声，提出了一种 以片装(on-chip)的方式在半导体集成电路上安装用于对电源噪声进行 观测的电路的技术。例如，参见日本特开第2005-249408号公报及日本特 开第2004-212387号公报。

发明内容

根据本发明的一方面，一种半导体集成电路包括：电路块，其经由总 线而连接到算术处理单元；电源噪声数据发生器，其通过对在使所述电路 块操作的电源的电源电压中所产生的电源噪声进行转换来生成电源噪声 数据信号；错误检测器，其对从所述电路块输出给所述总线的数据的错误 进行检测；以及写入控制器，其将基于所述电源噪声数据信号的电源噪声 信息与所述总线上的数据相关联并将所述电源噪声信息和所述总线上的 数据写入存储单元中，并响应于所述错误检测器检测到错误而停止写入所 述电源噪声信息和所述总线上的数据。

附图说明

图1是例示根据本发明实施例的信息处理装置的结构的框图。

图2是例示根据实施例的信息处理装置的总体结构的框图。

图3是例示根据实施例的电压比较器的电路结构的电路图。

图4是例示根据实施例的电压比较器的输出波形的示例的波形图。

图5是例示根据实施例的存储器的数据格式的概念图。

图6是例示在每定时器时间段地将电源噪声信息及数据信息写入存 储器中的情况下根据实施例的信息处理装置的操作的示例的时序图。

图7是例示在每时钟周期时间段地将电源噪声信息及数据信息写入 存储器中的情况下根据实施例的信息处理装置的操作的示例的时序图。

图8是例示在检测到错误的情况下根据实施例的信息处理装置的操 作的时序图。

图9A及图9B是例示根据比较示例的半导体集成电路中的错误检测 方法及测量电源噪声的方法的框图。

具体实施方式

在附图中，为了清楚的例示而可能夸大了尺寸及/或比例。应当理解， 在提到一个元件“连接到”另一元件时，该元件可以直接地连接或间接地 连接，即，还可以存在中间元件。此外，应当理解，在提到一个元件在两 个元件“之间”时，该元件可以是两个元件之间的仅有的元件层，或者还 可以存在一个或更多个中间元件。贯穿全文，相似的标号表示相似的元件。

首先，参照图1及图2来描述信息处理装置的结构。

图1是例示根据实施例的信息处理装置的结构的框图。图2是例示根 据实施例的信息处理装置的总体结构的框图。

在图1及图2中，根据实施例的信息处理装置1包括CPU100、半导 体集成电路200(例如，连接到CPU的芯片组等)、外部电源单元300及 服务处理器400。

如图2中所例示的，CPU100、半导体集成电路200及外部电源单元 300安装在诸如系统板的电子板20上。