[发明专利]面板模组与侦测方法无效

专利信息
申请号: 200910143790.8 申请日: 2009-05-26
公开(公告)号: CN101901093A 公开(公告)日: 2010-12-01
发明(设计)人: 张虔辅 申请(专利权)人: 张虔辅
主分类号: G06F3/045 分类号: G06F3/045
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 刘芳
地址: 中国*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 面板 模组 侦测 方法
【权利要求书】:

1.一种电阻式触控面板模组,包括:

一触控面板第一导电层;

一触控面板第二导电层,当发生一两点触碰事件时,所述触控面板第一导电层与所述触控面板第二导电层在一第一未知触碰点与一第二未知触碰点互相导通;

一第一电源,连接所述触控面板第一导电层;

一第一电阻测量单元,连接所述触控面板第一导电层,用以测量所述触控面板第一导电层的两侧之间的一第一电阻值;以及

一估测单元,连接所述第一电阻测量单元,依据所述第一电阻值估测所述第一未知触碰点与所述第二未知触碰点投影至一第一方向的一第一间距。

2.根据权利要求1所述的电阻式触控面板模组,还包括:

一电压侦测器,连接所述触控面板第二导电层与所述估测单元,用以测量所述触控面板第二导电层的一电压并输出给所述估测单元;

其中,所述估测单元依据所述电压估测所述第一未知触碰点与所述第二未知触碰点的一中心点投影至所述第一方向的一中心点位置,并依据所述中心点位置与所述第一间距估测所述第一未知触碰点与所述第二未知触碰点投影至所述第一方向的一第一位置与一第二位置。

3.根据权利要求1所述的电阻式触控面板模组,其中所述电阻测量单元包括:

一电阻侦测器,连接所述触控面板第一导电层的两侧,用以测量所述第一电阻值。

4.根据权利要求1所述的电阻式触控面板模组,其中所述电阻测量单元包括:

一电流侦测器,连接所述触控面板第一导电层,用以测量所述触控面板第一导电层的一第一电流量;以及

一运算单元,连接所述电流侦测器与所述第一电源,依据所述第一电流量与所述第一电源提供的一电压计算所述第一电阻值。

5.根据权利要求1所述的电阻式触控面板模组,还包括:

一第二电源,连接所述触控面板第二导电层;以及

一第二电阻测量单元,连接所述触控面板第二导电层与所述估测单元,用以测量所述触控面板第二导电层的两侧之间的一第二电阻值并输出给所述估测单元;

其中所述估测单元依据所述第二电阻值估测所述第一未知触碰点与所述第二未知触碰点投影至一第二方向的一第二间距。

6.根据权利要求5所述的电阻式触控面板模组,还包括:

一电压侦测器,连接所述触控面板第二导电层与所述估测单元,用以测量所述触控面板第一导电层的一电压并输出给所述估测单元;

其中,所述估测单元依据所述电压估测所述第一未知触碰点与所述第二未知触碰点的一中心点投影至所述第二方向的一中心点位置,并依据所述中心点位置与所述第二间距估测所述第一未知触碰点与所述第二未知触碰点投影至所述第二方向的一第一位置与一第二位置。

7.一种两点触碰事件的侦测方法,适用于一电阻式触控面板,包括:

当发生所述两点触碰事件时,所述电阻式触控面板的一第一导电层与一第二导电层在一第一未知触碰点与一第二未知触碰点互相导通;

测量所述第一导电层的两侧之间的一第一电阻值;以及

依据所述第一电阻值估测所述第一未知触碰点与所述第二未知触碰点投影至一第一方向的一第一间距。

8.根据权利要求7所述的两点触碰事件的侦测方法,还包括:

测量所述第二导电层的一电压;

依据所述电压估测所述第一未知触碰点与所述第二未知触碰点的一中心点投影至所述第一方向的一中心点位置;以及

依据所述中心点位置与所述第一间距估测所述第一未知触碰点与所述第二未知触碰点投影至所述第一方向的一第一位置与一第二位置。

9.根据权利要求7所述的两点触碰事件的侦测方法,其中测量所述第一导电层的两侧之间的所述第一电阻值的步骤包括:

测量所述第一导电层的一第一电流量;以及

依据所述第一电流量与提供至所述第一导电层的一电压计算所述第一电阻值。

10.根据权利要求7所述的两点触碰事件的侦测方法,还包括:

测量所述第二导电层的两侧之间的一第二电阻值;以及

依据所述第二电阻值估测所述第一未知触碰点与所述第二未知触碰点投影至一第二方向的一第二间距。

11.根据权利要求10所述的两点触碰事件的侦测方法,还包括:

测量所述第一导电层的一电压并输出给所述估测单元;

依据所述电压估测所述第一未知触碰点与所述第二未知触碰点的一中心点投影至所述第二方向的一中心点位置;以及

依据所述中心点位置与所述第二间距估测所述第一未知触碰点与所述第二未知触碰点投影至所述第二方向的一第一位置与一第二位置。

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