[发明专利]对非易失性存储设备进行编程的方法

权利要求书

1.一种对非易失性存储设备进行编程的方法，包括：

通过向第一页施加编程脉冲来对该第一页进行编程操作；

通过向所述第一页施加验证电压来对所述编程操作进行验证操作；

如果作为所述验证操作的结果针对所述第一页的编程操作尚未完成，则将从所述第一页的阈值电压中选择的电压设定为最高阈值电压；

通过在增大所述编程脉冲的电压电平的同时对所述第一页重复地进行编程操作及验证操作来完成针对所述第一页的编程操作；

将针对所述第一页的编程起动电压与所述验证电压和所述最高阈值电压之间的差的总和设定为针对第二页的编程起动电压；以及

基于所设定的针对所述第二页的编程起动电压来进行针对所述第二页的编程操作。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述设定最高阈值电压的步骤包括：

如果已对其进行了所述编程操作的存储单元中的任一存储单元都未被编程成具有所述验证电压或更大的电压，则减小所述验证电压，并基于减小的验证电压来进行验证操作；

重复地减小所述验证电压，直到通过基于减小的验证电压来重复地进行验证操作而检测到被编程成具有减小的验证电压或更大的电压的单元为止；以及

如果检测到被编程成具有减小的验证电压或更大的电压的单元，则将在相对应的时间点施加的验证电压设定为所述最高阈值电压。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述设定最高阈值电压的步骤包括：

如果已对其进行了所述编程操作的存储单元中的任一存储单元被编程成具有所述验证电压或更大的电压，则增大所述验证电压，并基于增大的验证电压来进行验证操作；

重复地增大所述验证电压，直到通过基于增大的验证电压来重复地进行验证操作而未检测到被编程成具有增大的验证电压或更大的电压的单元为止；以及

如果未检测到被编程成具有增大的验证电压或更大的电压的单元，则将在相对应的时间点之前施加的验证电压设定为所述最高阈值电压。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述设定针对第二页的编程起动电压的步骤包括：

在所述验证电压高于所述最高阈值电压时，按照使得针对所述第二页的编程起动电压高于针对所述第一页的编程起动电压的方式来设定针对所述第二页的编程起动电压；以及

在所述验证电压低于所述最高阈值电压时，按照使得针对所述第二页的编程起动电压低于针对所述第一页的编程起动电压的方式来设定针对所述第二页的编程起动电压。

5.一种通过施加伪编程脉冲来对非易失性存储设备进行编程以便对由编程/擦除周期的数量的增加而引起的编程速度的增大进行补偿的方法，该方法包括：

通过向第一页施加编程脉冲来对该第一页进行编程操作；

通过向所述第一页施加验证电压来对所述编程操作进行验证操作；

如果作为所述验证操作的结果针对所述第一页的编程操作尚未完成，则将从所述第一页的阈值电压中选择的电压设定为最高阈值电压；

通过在增大所述编程脉冲的电压电平的同时对所述第一页重复地进行编程操作及验证操作来完成针对所述第一页的编程操作；

将针对所述第一页的编程起动电压与所述验证电压和所述最高阈值电压之间的差的总和设定为针对第二页的编程起动电压；以及

基于所设定的针对所述第二页的编程起动电压来进行针对所述第二页的编程操作。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述设定最高阈值电压的步骤包括：

如果已对其进行了所述编程操作的存储单元中的任一存储单元都未被编程成具有所述验证电压或更大的电压，则重复地减小所述验证电压，直到通过基于减小的验证电压来重复地进行验证操作而检测到被编程成具有该验证电压或更大的电压的单元为止；以及

如果检测到被编程成具有减小的验证电压或更大的电压的单元，则将在相对应的时间点施加的验证电压设定为所述最高阈值电压。

7.根据权利要求5所述的方法，其中，所述设定最高阈值电压的步骤包括：

如果已对其进行了所述编程操作的存储单元中的任一存储单元被编程成具有所述验证电压或更大的电压，则重复地增大所述验证电压，直到通过基于增大的验证电压来重复地进行验证操作而未检测到被编程成具有该验证电压或更大的电压的单元为止；以及

如果未检测到被编程成具有增大的验证电压或更大的电压的单元，则将在相对应的时间点之前施加的验证电压设定为所述最高阈值电压。

8.根据权利要求5所述的方法，其中，所述设定针对第二页的编程起动电压的步骤包括：

在所述验证电压高于所述最高阈值电压时，按照使得针对所述第二页的编程起动电压高于针对所述第一页的编程起动电压的方式来设定针对所述第二页的编程起动电压；以及

在所述验证电压低于所述最高阈值电压时，按照使得针对所述第二页的编程起动电压低于针对所述第一页的编程起动电压的方式来设定针对所述第二页的编程起动电压。