[发明专利]透镜基板的检测方法及其应用于显示装置的制造方法有效

专利信息
申请号: 200910140188.9 申请日: 2009-07-10
公开(公告)号: CN101604080A 公开(公告)日: 2009-12-16
发明(设计)人: 周上杰;廖至钦;黄彦杰 申请(专利权)人: 友达光电股份有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G02F1/133;G01N21/958
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 姜 燕;陈 晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 透镜 检测 方法 及其 应用于 显示装置 制造
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种制造方法,特别涉及一种应用于三维显示的显示装置的制造方法。

背景技术

目前对于显示装置的要求,不仅着重于显示画面的清晰度、色彩及对比度等,现今更向三维(立体)显示技术迈进,使得画面显示不只是以往的二维(平面)显示,更能营造出立体感,让使用者更有身历其境的感受。三维图像显示以同一物体的两个二维图像(一为左眼,另一为右眼)作为形成三维图像的基础,观看者的大脑将所述二维图像重叠,以产生三维图像的错觉。

液晶显示装置于生产时,容易因工艺控制不良等因素而产生缺陷点,进而影响显示装置的显示品质,其原因包含如微粒(particle)落在透镜基板内、于透镜基板工艺中残留杂质或透镜基板因静电伤害而受到破坏等情形,都会造成缺陷点的形成。

因此,以瑕疵检测的方式检测透镜基板是否受到毁损。瑕疵检测可分为人工检测与机械视觉检测。对于人工于重复性的检测上,由于身体疲劳、视觉极限而只能判别大于60μm以上的瑕疵。然而,目前多数的机械视觉检测皆应用在表面平整的瑕疵检测,对于三维显示装置的微透镜在工艺上具有特殊轮廓元件与透明材料的特性,其应用较不广泛。

请参照图1A及图1B所示,图1A及1B皆为以公知检测方法于检测中所提取的图像。图1A为全亮散射的图像,若所检测的元件具有不明杂质及缺陷,易因受到光线全亮散射的影响,使得不明的缺陷点不容易被检测出。另外,图1B为周期性亮暗条纹光的图像,若所检测的元件具有不明杂质及缺陷,其亦易因受到光线及特殊轮廓元件而产生的周期性亮暗条纹光的影响,使得不明的缺陷点不容易被检测出。

因此,如何提供一种显示装置的制造方法及透镜基板的检测方法,可检测应用于三维显示的透镜基板是否具有缺陷或杂质,以提高表面检测的效率及显示装置的良率,进而提升显示画面的品质,便是现今重要的课题。

发明内容

有鉴于上述课题,本发明的目的为提供一种显示装置的制造方法及透镜基板的检测方法,其可容易检测透镜基板是否具有缺陷及杂质,以提升显示画面的品质及显示装置的良率。

为达上述目的,依据本发明的一种显示装置的制造方法,显示装置应用于三维显示,制造方法包含下列步骤:提供一透镜基板,其具有一第一表面及多个光学元件,其中所述多个光学元件各具有一长边与一短边,且所述多个光学元件周期性设置于第一表面上;将一条状发光单元与所述多个光学元件的所述短边平行设置;由条状发光单元发射一光束照射第一表面上的所述多个光学元件,且光束与透镜基板之间具有一夹角;由一图像提取单元提取透镜基板的至少一图像,且图像提取单元与透镜基板相对移动,其中图像提取单元实质垂直于透镜基板;依据提取透镜基板的图像进行一表面检测;以及将已通过表面检测的透镜基板设置于一显示面板之上,该显示面板包括:一彩色滤光片基板及一薄膜晶体管基板;以及设置一液晶层于该彩色滤光片基板与该薄膜晶体管基板之间。

于本发明一实施例中,表面检测将图像提取单元提取透镜基板的图像与一标准图像相比较,两图像若相似即通过表面检测。

于本发明一实施例中,表面检测判断图像提取单元提取的图像具有的亮点数目及大小,若图像具有超过一定数目或大小的亮点即未通过表面检测。

于本发明一实施例中,制造方法还包含提供一压模元件,其具有一第二表面及多个凸条,所述多个凸条各具有一长边与一短边,且所述多个凸条周期性设置于第二表面上;将一软性元件与压模元件相对设置,其中软性元件具有一第三表面;通过压模元件压合于软性元件的第三表面上形成连续的多个凹部,且所述多个凹部各具有一长边与一短边;以及将一光学材料注入所述多个凹部,以构成透镜基板。

于本发明一实施例中,制造方法还包含将条状发光单元与所述多个凸条的所述短边平行设置;将光束照射于第二表面上的所述多个凸条,且光束与压模元件之间具有一夹角;以及由图像提取单元提取压模元件的至少一图像,且图像提取单元与压模元件相对移动,其中图像提取单元实质垂直于压模元件。

于本发明一实施例中,制造方法还包含将条状发光单元与所述多个凹部的所述短边平行设置;将光束照射于第三表面上的所述多个凹部,且光束与软性元件之间具有一夹角;以及由图像提取单元提取软性元件的至少一图像,且图像提取单元与软性元件相对移动,其中图像提取单元实质垂直于软性元件。

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