[发明专利]抗反射材料、光学元件、显示器件及压模的制造方法和使用了压模的抗反射材料的制造方法有效

专利信息
申请号: 200910138080.6 申请日: 2005-12-01
公开(公告)号: CN101566698A 公开(公告)日: 2009-10-28
发明(设计)人: 田口登喜生;植木俊;中村浩三;津田和彦 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: G02B1/11 分类号: G02B1/11;G02B5/04;G02F1/1335;G02F1/153;G02F1/167
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 刘宗杰;王小衡
地址: 日本大阪*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 反射 材料 光学 元件 显示 器件 制造 方法 使用
【权利要求书】:

1.一种抗反射材料,在表面上具有微细凹凸结构,其特征在于,

上述微细凹凸结构包含多个微细凸部,

当假定上述多个微细凸部之中相互邻接的任意的凸部之间的距离为P、入射光的最短波长为λmin、上述入射光的最大入射角为θimax、入射介质的折射率为ni、上述抗反射材料的折射率为ns时,满足下式(1’)

P/λmin<1/(ni+ni·sinθimax)  ...(1’)

当假定上述凹凸结构的高度方向的坐标轴为h轴、上述凹凸结构中的凸部的最高点为h=d、上述凹凸结构中的凹部的最低点为h=0时,用h的函数表示的有效折射率neff(h)满足如下关系(1b)

neff(h=0)处于ns±7%的范围内,并且neff(h=d)处于ni±7%的范围内       ...(1b)

上述有效折射率neff(h)与用下式(1c)

Neff(h)={(neff(h=d)-neff(h=0))/d}×h+neff(h=0)...(1c)

表示的函数Neff(h)至少在一点上相交,并进一步满足如下关系:

|Neff(h)-neff(h)|≤|neff(h=d)-neff(h=0)|×0.2。

2.如权利要求1所述的抗反射材料,其特征在于,

上述式(1’)还满足下式(2’)

P/λmin<1/(max{ni,ns}+ni·sinθimax)     ...(2’)

式中,max{ni,ns}意指ni和ns之中折射率大的一方。

3.如权利要求1所述的抗反射材料,其特征在于,

上述有效折射率neff(h)的微分系数(dneff(h)/dh)还满足如下关系:

dneff(h)/dh处于{(neff(h=d)-neff(h=0))/d}±20%的范围内。

4.如权利要求1至3中任意一项所述的抗反射材料,其特征在于,

当假定上述凹凸结构的高度方向的坐标轴为h轴、上述凹凸结构中的凸部的最高点为h=d、上述凹凸结构中的凹部的最低点为h=0时,上述凸部与h=d的xy面大致点相接,上述凹部与h=0的xy面大致点相接。

5.如权利要求4所述的抗反射材料,其特征在于,

上述凹部相对于h=d/2的xy面与上述凸部对称地配置。

6.如权利要求1至3中任意一项所述的抗反射材料,其特征在于,

上述凹凸结构的上述凸部具有台阶状的侧面。

7.如权利要求1至3中任意一项所述的抗反射材料,其特征在于,

上述多个微细凸部包含:在周围形成了3个以上6个以下的微细凹部的微细凸部。

8.如权利要求1至3中任意一项所述的抗反射材料,其特征在于,

上述凹部具有尖状。

9.一种光学元件,包括权利要求1至3的任一项中所述的抗反射材料。

10.一种显示器件,包括权利要求9所述的光学元件。

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