[发明专利]一种通过特征参量鉴别多种荧光光谱混叠物质的系统和方法无效

专利信息
申请号: 200910135895.9 申请日: 2009-04-30
公开(公告)号: CN101566569A 公开(公告)日: 2009-10-28
发明(设计)人: 尚丽平;李占锋;邓琥;李朕;何俊;屈薇薇;黄竞 申请(专利权)人: 西南科技大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 621010四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 通过 特征 参量 鉴别 多种 荧光 光谱 物质 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种通过特征参量鉴别多种荧光光谱混叠物质的系统,包括:

测量提取模块,用于通过荧光测量仪器来测量多种物质的三维荧光光谱,并提取其中的比对特征参量α1;

计算和判定模块,用于分别计算多种物质的三维荧光光谱同一比对特征参量的差值比C,并将差值比C大于预先设定阈值的比对特征参量设为三维荧光光谱混叠物质的敏感特征参量β;

存储模块,用于存储多个荧光光谱混叠物质的种类名和敏感特征参量β至基准数据库;

测量处理模块,用于提取需鉴别物质的比对特征参量α2;

查询获取模块,用于依据测量处理模块所提取的需鉴别物质的比对特征参量α2在基准数据库中查询与其相关度最大的敏感特征参量;

计算模块,用于计算需鉴别物质的比对特征参量α2与相关度最大的敏感特征参量β的相关度值R,当其值大于预先设定的阈值时则判定为需要鉴别物质的种类名称;

输出模块,根据计算模块的结果输出所需要鉴别物质的种类名称和对应的敏感特征参量β,并输出相关度R的数据。

2.根据权利要求1所述的系统,其中需鉴别物质的比对特征参量为平均值、标准差、边际分布、相关系数、原点距和混合中心距中的一种或几种。

3.根据权利要求1所述的系统,其中计算和判定模块中的多种物质的三维荧光光谱同一比对特征参量的差值比C是通过对同一比对特征参量的差取绝对值|A-B|,再将其除以其中数值小的参量D=min(A,B)而得到的,公式为C=|A-B|/D。

4.根据权利要求1所述的系统,其中计算和判定模块中预先设定阈值为50%。

5.根据权利要求1所述的系统,其中计算模块中预先设定的阈值为95%。

6.根据权利要求1所述的系统,其中需鉴别的荧光光谱混叠物质为色氨酸和酪氨酸。

7.一种通过特征参量鉴别多种荧光光谱混叠物质的方法,其包括以下步骤:

测量提取步骤,通过荧光测量仪器来测量多种物质的三维荧光光谱,并提取其中的比对特征参量α1;

计算和判定步骤,分别计算多种物质的三维荧光光谱同一比对特征参量的差值比C,并将差值比C大于预先设定阈值的比对特征参量设为三维荧光光谱混叠物质的敏感特征参量β;

存储步骤,存储多个荧光光谱混叠物质的种类名和敏感特征参量β至基准数据库;

测量处理步骤,提取需鉴别物质的比对特征参量α2;

查询获取步骤,依据测量处理模块所提取的需鉴别物质的比对特征参量α2在基准数据库中查询与其相关度最大的敏感特征参量; 

计算步骤,用于计算需鉴别物质的比对特征参量α2与相关度最大的敏感特征参量β的相关度值R,当其值大于预先设定的阈值时则判定为需要鉴别物质的种类名称;

输出步骤,根据计算模块的结果输出所需要鉴别物质的种类名称和对应的敏感特征参量β,并输出相关度R的数据。

8.根据权利要求7所述的方法,其中需鉴别物质的比对特征参量为平均值、标准差、边际分布、相关系数、原点距和混合中心距中的一种或几种。

9.根据权利要求7所述的方法,其中计算和判定步骤中的多种物质的三维荧光光谱同一比对特征参量的差值比C是通过对同一比对特征参量的差取绝对值|A-B|,再将其除以其中数值小的参量D=min(A,B)而得到的,公式为C=|A-B|/D。

10.根据权利要求7所述的方法,其中计算和判定步骤中预先设定阈值为50%。

11.根据权利要求7所述的方法,其中计算步骤中预先设定的阈值为95%。 

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