[发明专利]获取图像偏移位置的方法及装置有效

专利信息
申请号: 200910135391.7 申请日: 2009-04-28
公开(公告)号: CN101546432A 公开(公告)日: 2009-09-30
发明(设计)人: 徐佳宏;肖友能;汪国樑 申请(专利权)人: 深圳市茁壮网络股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 彭愿洁;李文红
地址: 518002广东省深圳市罗湖区沿河*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 获取 图像 偏移 位置 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种获取图像偏移位置的方法,其特征在于,包括:

沿叠加后的图像的Y轴或X轴方向探测第一标尺样条线和第二标尺样条线;所述叠加后的图像是由上层图像和下层图像叠加构成的,所述第一标尺样条线和第二标尺样条线预先绘制在所述上层图像上,且相互平行;所述第一标尺样条线和第二标尺样条线用于计算上层图像完全落在下层图像上的偏移位置的自绘规律线条;

根据探测到的所述第一标尺样条线和第二标尺样条线确定所述第一标尺样条线和第二标尺样条线在上层图像的位置;

根据第一标尺样条线在所述上层图像的位置和第一标尺样条线在所述叠加后的图像的位置,以及根据第二标尺样条线在所述上层图像的位置和第二标尺样条线在所述叠加后的图像的位置计算上层图像在下层图像中的偏移位置。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一标尺样条线和第二标尺样条线的间距是相对于所述上层图像的起始位置的所述第一标尺样条线和第二标尺样条线之间的距离。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述沿叠加后的图像的Y轴或X轴方向探测第一标尺样条线和第二标尺样条线之前,该方法还包括:

对所述叠加后的图像进行二值化处理。

4.一种获取图像偏移位置的装置,其特征在于,包括:

探测模块,用于沿叠加后的图像的Y轴或X轴方向探测第一标尺样条线和第二标尺样条线;所述叠加后的图像是由上层图像和下层图像叠加构成的,所述第一标尺样条线和第二标尺样条线预先绘制在所述上层图像上,且相互平行;所述第一标尺样条线和第二标尺样条线用于计算上层图像完全落在下层图像上的偏移位置的自绘规律线条;

确定模块,用于根据探测到的所述第一标尺样条线和第二标尺样条线确定所述第一标尺样条线和第二标尺样条线在上层图像的位置;

计算模块,用于根据第一标尺样条线在所述上层图像的位置和第一标尺样条线在所述叠加后的图像的位置,以及根据第二标尺样条线在所述上层图像的位置和第二标尺样条线在所述叠加后的图像的位置计算上层图像在下层图像中的偏移位置。

5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:

处理模块,用于在所述探测模块对所述叠加后的图像探测所述第一标尺样条线和第二标尺样条线之前,对所述叠加后的图像进行二值化处理。

6.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述第一标尺样条线和第二标尺样条线的间距是相对于所述上层图像的起始位置的所述第一标尺样条线和第二标尺样条线之间的距离。

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