[发明专利]系统开路测试的方法无效
| 申请号： | 200910131318.2 | 申请日： | 2009-04-14 |
| 公开（公告）号： | CN101865964A | 公开（公告）日： | 2010-10-20 |
| 发明（设计）人： | 徐志学 | 申请（专利权）人： | 尼克森微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;祁建国 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 系统 开路 测试 方法 | ||
1.一种系统开路测试的方法，其特征在于，包含下列步骤：
提供一待测系统，该待测系统具有至少一静电放电保护电路、一信号输入管脚、一第一电压端与一第二电压端，该静电放电保护电路的一端耦接该信号输入管脚，另一端耦接该第一电压端，并且，该静电放电保护电路具有一个内部二极管；
耦接一个单向导通元件至该静电放电保护电路，该单向导通元件的导通方向与该静电放电保护电路的该内部二极管的导通方向相反；以及
通过该单向导通元件提供一测试信号至该待测系统。
2.根据权利要求1所述的系统开路测试的方法，其特征在于，所述的静电放电保护电路具有一可控硅整流器元件。
3.根据权利要求1所述的系统开路测试的方法，其特征在于，所述的静电放电保护电路具有一金属氧化物半导体元件。
4.根据权利要求1所述的系统开路测试的方法，其特征在于，所述的待测系统具有一功率金属氧化物半导体元件，其栅极耦接至该信号输入管脚。
5.根据权利要求1所述的系统开路测试的方法，其特征在于，所述的第一电压端与该第二电压端分别为一接地端与一电源供应电压端。
6.根据权利要求1所述的系统开路测试的方法，其特征在于，所述的单向导通元件以外接方式连接至该信号输入管脚，并通过该信号输入管脚耦接至该静电放电保护电路。
7.根据权利要求6所述的系统开路测试的方法，其特征在于，在该待测系统完成测试之后，还包括移除该单向导通元件。
8.根据权利要求1所述的系统开路测试的方法，其特征在于，所述的单向导通元件设置于该信号输入管脚与该静电放电保护电路间的电路上。
9.一种系统开路测试的方法，其特征在于，包含下列步骤：
提供一待测系统，该待测系统具有至少一静电放电保护电路、一信号输入管脚、一第一电压端与一第二电压端，该静电放电保护电路具有至少一个金属氧化物半导体晶体管，该金属氧化物半导体晶体管的发射极与集电极分别耦接该信号输入管脚与该第一电压端；
空接该金属氧化物半导体元件的基极，以消除该静电放电保护电路的一内部二极管所构成的导通路径；以及
提供一测试信号至该待测系统。
10.根据权利要求9所述的系统开路测试的方法，其特征在于，所述的静电放电保护电路具有一可控硅整流器元件。
11.根据权利要求9所述的系统开路测试的方法，其特征在于，所述的待测系统具有一功率金属氧化物半导体元件，其栅极耦接至该信号输入管脚。
12.根据权利要求9所述的系统开路测试的方法，其特征在于，所述的第一电压端与该第二电压端分别是一接地端与一电源供应电压端。
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