[发明专利]具有相位调节器的光子探测方法和电路

权利要求书

1.一种光子探测电路，包括：

光接收元件，具有预定时段的周期性选通脉冲被施加到所述光接收元件；

选通脉冲波形平均部件，所述选通脉冲波形平均部件用于平均所述预定时段中的采样波形数据以生成平均波形数据，其中所述采样波形数据是从所述光接收元件的输出信号获得的；

相位调节器，所述相位调节器用于调节所述平均波形数据和所述采样波形数据的相位中的至少一个，从而所述平均波形数据和所述采样波形数据之间的相位差消失；以及

鉴别器，所述鉴别器用于基于经相对相位调节的所述采样波形数据和所述平均波形数据之间的差异来鉴别光子探测。

2.根据权利要求1所述的光子探测电路，其中所述相位调节器包括相位差检测器，所述相位差检测器用于检测相位比较窗口中的相位差，所述相位比较窗口是与所述周期性选通脉冲的一个选通脉冲的上升部分相对应的时间跨度。

3.根据权利要求2所述的光子探测电路，其中所述时间跨度与所述光接收元件的输出信号的振幅的高改变率相对应，所述高改变率大于预定值。

4.根据权利要求1-3中的任何一个所述的光子探测电路，其中所述鉴别器鉴别鉴别窗口中的光子探测，所述鉴别窗口在时间上与检测所述采样波形数据和所述平均波形数据之间的相位差的时间跨度不同。

5.根据权利要求1-4中的任何一个所述的光子探测电路，还包括：

插值部件，所述插值部件用于插值经相位调节的所述平均波形数据以产生经插值的平均波形数据，

其中所述鉴别器基于所述采样波形数据和所述经插值的平均波形数据之间的差异来鉴别光子探测。

6.根据权利要求1-5中的任何一个所述的光子探测电路，还包括：

可变延迟部件，所述可变延迟部件用于当所述光接收元件的输出信号根据采样时钟而被采样以获得所述采样波形数据时，以预定的阶段来扫描所述采样时钟的相位；以及

存储部件，所述存储部件用于存储所述预定时段中的更密集采样的波形数据，其中所述更密集采样的波形数据是通过扫描所述采样时钟的相位获得的，

其中所述选通脉冲波形平均部件输入所述更密集采样的波形数据作为所述预定时段中的所述采样波形数据。

7.根据权利要求6所述的光子探测电路，还包括：

选择器，所述选择器用于选择与鉴别窗口相对应的所述平均波形数据的部分以将此部分输出至所述鉴别器，其中所述鉴别窗口在时间上与检测所述采样波形数据和所述平均波形数据之间的相位差的时间跨度不同。

8.根据权利要求6或7所述的光子探测电路，还包括：

开关，所述开关用于仅将所述采样波形数据的第一部分和第二部分存储进所述存储部件，所述第一部分与相位比较窗口相对应，所述相位比较窗口是用于所述采样波形数据和所述平均波形数据之间的相位差的检测的时间跨度，所述第二部分与鉴别窗口相对应，所述鉴别窗口在时间上与所述相位比较窗口不同。

9.一种利用光接收元件的光子探测方法，具有预定时段的周期性选通脉冲被施加到所述光接收元件，所述方法包括：

平均所述预定时段中的采样波形数据以生成平均波形数据，其中所述采样波形数据是从所述光接收元件的输出信号获得的；

调节所述平均波形数据和所述采样波形数据的相位中的至少一个，从而所述平均波形数据和所述采样波形数据之间的相位差消失；以及

基于经相对相位调节的所述采样波形数据和所述平均波形数据之间的差异来鉴别光子探测。

10.根据权利要求9所述的光子探测方法，其中所述相位差是在相位比较窗口中被检测的，所述相位比较窗口是与所述周期性选通脉冲的一个选通脉冲的上升部分相对应的时间跨度。

11.根据权利要求10所述的光子探测方法，其中所述时间跨度与所述光接收元件的输出信号的振幅的高改变率相对应，所述高改变率大于预定值。

12.根据权利要求9-11中的任何一个所述的光子探测方法，其中所述光子探测是在鉴别窗口中被鉴别的，所述鉴别窗口在时间上与检测所述采样波形数据和所述平均波形数据之间的相位差的时间跨度不同。