[发明专利]光触摸屏无效

专利信息
申请号: 200910128917.9 申请日: 2009-03-13
公开(公告)号: CN101673159A 公开(公告)日: 2010-03-17
发明(设计)人: 全相烈;郑一权;韩承宪 申请(专利权)人: 三星电机株式会社
主分类号: G06F3/042 分类号: G06F3/042;H01L31/02
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人: 郭鸿禧;罗延红
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 触摸屏
【说明书】:

本申请要求于2008年9月9日在韩国知识产权局提交的第2008-88773号韩国专利申请的优先权,其内容结合于此作为参考。

技术领域

本发明涉及一种光触摸屏,更具体地讲,涉及一种使用红外发射材料来被红外线触摸而没有物理接触的光触摸屏,所述的红外发射材料发射红外光谱内的光。

背景技术

近年来,随着软件和半导体技术及数据处理技术的显著发展,各种数据装置,如移动电话和个人数字助理(PDA),正日益变得多功能化。此外,在数据装置中,通过输入数据的数据存储和通信正变得更加重要。

传统地,数据装置中数据的输入是通过按压输入键来实现的。但最近,数据的输入越来越多地利用数据装置中的触摸屏来完成。

一般来说,触摸屏是一种代替输入键、键盘和鼠标的输入装置。触摸屏被安装在屏幕上,随后通过手或者触摸笔直接触摸触摸屏来输入数据。触摸屏在图形用户界面(GUI)环境中使功能直观化,因此适用于便携式输入装置。此外,触摸屏可以广泛地应用于计算机模拟应用、办公自动化应用及教育应用和游戏应用中。

使用该触摸屏的输入装置主要包括附于监视器上的触摸面板、控制器、装置驱动器和应用程序。触摸面板由多层形成,所述多层包括经特殊处理用来感测用户输入的信号的ITO玻璃和ITO膜。当触摸面板的表面被手或触摸笔触摸时,显示器的位置识别传感器感测触摸面板上的触摸位置。

在利用这种触摸面板的触摸屏中,手或触摸笔应直接触摸触摸面板,从而在触摸面板的表面留下指纹或导致划痕。而且,当应用于大尺寸显示器时,这种触摸屏不能进行远距离操作。

发明内容

本发明的一个方面提供了一种不用物理接触就能够远距离执行光触摸的光触摸屏。

根据本发明的一个方面,提供了一种光触摸屏,该光触摸屏包括:光触摸面板,所述光触摸面板含有当暴露在红外光时发光的红外磷光体材料;传感器部件,设置在光触摸面板的侧部,用于检测从光触摸面板发射的光。

光触摸屏还可包括估计器,所述估计器响应于传感器部件检测到的信号来估计光触摸面板上的发光位置。

红外磷光体材料在暴露于红外光时可以发射可见光或红外光。

红外磷光体材料可以与波长为大约900nm的光起作用并发射波长为大约800nm的光。

光触摸面板可以包括片,所述片具有混合在一起的红外磷光体材料和透明材料。

光触摸屏可以包括透明片和设置于透明片上的红外磷光体片。所述光触摸面板还可以包含设置于红外磷光体片上的另一透明片。

所述透明片可以包含玻璃或亚克力材料之一。

所述传感器部件可以包括至少两个按照发光位置被三角测量的方式布置的传感器。

所述传感器部件可以包括图像传感器,所述图像传感器具有多个线性排列的像素,所述多个像素检测所发射的光。

附图说明

通过下文中结合附图的具体描述,本发明的上述及其它方面、特征和其它优点将会被更加清楚地理解,其中:

图1是示出根据本发明示例性实施例的光触摸屏的构造图;

图2A到图2C是示出光触摸屏中使用的光触摸面板的各种示例的剖视图。

图3是示出根据本发明示例性实施例的应用光触摸屏的电视机的构造图。

具体实施方式

现在将参考附图详细地描述本发明的示例性实施例。

图1是示出根据本发明的示例性实施例的光触摸屏的构造图。

参考图1,本实施例的光触摸屏100包括光触摸面板110、传感器部件和估计器部件(estimator part)150。

光触摸面板110可以含有当暴露于红外光时能够发光的红外磷光体材料。当暴露于红外光时,这种红外磷光体材料能够发射红外光或可见光。在本实施例中,这种红外磷光体材料可以利用当暴露于波长为大约900nm的光时发射波长为大约850nm的光的磷光体材料。

这种红外磷光体材料可以和透明材料(如玻璃或亚克力材料)混合来形成光触摸面板110。

用于检测光触摸面板110上的发光位置的传感器部件形成于光触摸面板110的侧部。在本实施例中,传感器部件包括两个传感器120和130。

传感器120和130均可包括能够检测发射的光的像素。依靠像素检测的光,可以得到相对于光触摸面板上发光位置的角度的信息。每个传感器可以有多个线性排列的像素。

在本实施例中,传感器部件包括设置在光触摸面板的角落处的两个传感器120和130。如本实施例中使用两个传感器的情况,光触摸面板110上的发光位置可以通过三角测量来检测,从而确保发光位置的检测更为精确。

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