[发明专利]光学存取系统以及其译码策略控制方法有效
| 申请号: | 200910119236.6 | 申请日: | 2009-03-09 |
| 公开(公告)号: | CN101504852A | 公开(公告)日: | 2009-08-12 |
| 发明(设计)人: | 曾律嘉;王思凯;林至信 | 申请(专利权)人: | 凌阳科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G11B20/10 | 分类号: | G11B20/10;G11B20/18 |
| 代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙 洪;霍育栋 |
| 地址: | 台湾省新竹科*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光学 存取 系统 及其 译码 策略 控制 方法 | ||
1.一种光学存取系统,包含:
一光学读取头,接收一光学信号后转换为一电信号;
一前置放大器,接收前述电信号后输出一射频信号与一位置误差信号;
一数据与时序重建单元,接收前述射频信号,进而产生一调变信号与一 频率信号;
一错误更正单元,接收前述调变信号与前述频率信号,进而产生一数据 信号;
一缺陷信号产生单元,根据该射频信号产生一缺陷信号,其中,当该射 频信号有缺陷时,该缺陷信号会被使能;
一伺服控制器,接收前述位置误差信号以及前述缺陷信号,并产生一伺 服控制信号;以及
一错误更正控制单元,根据该缺陷信号的特征,进而产生错误更正控制 信号;
其中,前述错误更正单元还根据该错误更正控制信号调整该错误更正单 元的译码策略;
其中,前述缺陷信号的特征包含该缺陷信号的缺陷宽度、该缺陷信号的 缺陷数量,以及该缺陷信号的缺陷密度。
2.如权利要求1所述的光学存取系统,其特征在于:
前述伺服控制器还接收前述错误更正控制单元的错误更正控制信号,用 以调整前述伺服控制器的带宽。
3.如权利要求2所述的光学存取系统,其特征在于:
前述错误更正控制单元在每个侦测周期中判断该缺陷信号的缺陷宽度、 缺陷密度,以及缺陷数量。
4.如权利要求3所述的光学存取系统,其特征在于:
前述错误更正控制单元在判断出在一侦测周期中该缺陷信号的缺陷宽 度没有超过一宽度临界值,同时该缺陷密度小于或等于一第一密度临界值或 该缺陷数量小于或等于一第一数量临界值时,将该译码策略以及该伺服控制 器的相关参数设定为最小量错误标记设置、一般递归量,以及一般伺服控制 器带宽。
5.如权利要求4所述的光学存取系统,其特征在于:
前述错误更正控制单元在判断出在该侦测周期中该缺陷信号的缺陷宽 度没有超过前述宽度临界值,且该缺陷密度大于前述第一密度临界值,同时 该缺陷数量高于前述第一数量临界值时,将该译码策略以及该伺服控制器的 相关参数设定为该最小量错误标记设置、与最大递归量,以及降低该伺服控 制器的带宽。
6.如权利要求5所述的光学存取系统,其特征在于:
前述错误更正控制单元在判断出在该侦测周期中该缺陷信号的缺陷宽 度超过前述宽度临界值,且该缺陷密度小于或等于一第二密度临界值或该缺 陷数量小于或等于一第二数量临界值时,将该译码策略以及该伺服控制器的 相关参数设定为最大量错误标记设置、最大递归量,以及一般伺服控制器带 宽。
7.如权利要求6所述的光学存取系统,其特征在于:
前述错误更正控制单元在判断出在该侦测周期中该缺陷信号的缺陷宽 度超过前述宽度临界值,且该缺陷密度大于前述第二密度临界值,同时该缺 陷数量高于前述第二数量临界值时,将该译码策略以及该伺服控制器的相关 参数设为中等量错误标记设置与中等递归量,以及降低该伺服控制器的带 宽。
8.一种光学存取系统的译码策略控制方法,包含下列步骤:
进行初始化,包含设定一侦测周期、一第一密度临界值、一第二密度临 界值、一第一数量临界值、以及一第二数量临界值,并将译码策略以及伺服 控制器的相关参数设定为最小量错误标记设置、一般递归量与一般伺服控制 器带宽;
侦测盘片的缺陷信号的特征,包含在前述侦测周期内侦测该盘片中缺陷 信号的特征,进而产生一缺陷宽度、一缺陷密度、以及一缺陷数量;以及
调整前述译码策略,包含根据前述缺陷宽度、前述缺陷密度、以及前述 缺陷数量来调整该译码策略。
9.如权利要求8所述的光学存取系统的译码策略控制方法,其特征在 于:
当前述侦测周期中该缺陷宽度没有超过一宽度临界值,同时该缺陷密度 小于或等于前述第一密度临界值或缺陷数量小于或等于前述第一数量临界 值时,将该译码策略以及该伺服控制器的相关参数设定为该最小量错误标记 设置、该一般递归量,以及该一般伺服控制器带宽。
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