[发明专利]液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法有效
| 申请号： | 200910106440.4 | 申请日： | 2009-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN101846819A | 公开（公告）日： | 2010-09-29 |
| 发明（设计）人： | 李卫凤;高明 | 申请（专利权）人： | 比亚迪股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/139 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518118 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 液晶显示器 制造 丝印 检测 方法 | ||
1.一种液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
A、丝印完密封框胶后，在基板的定向层上直接涂覆一层液晶；
B、将涂有液晶层的基板放在带有偏光系统的光学放大系统下，通过调整光学放大系统的亮度和放大倍数，观察基板上是否有丝印网痕。
2.根据权利要求1所述的液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特征在于，在步骤A中，所述涂覆一层液晶是用光滑的玻璃片将直接滴在玻璃上的液晶涂布在基板的定向层上。
3.根据权利要求2所述的液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特征在于，所述涂覆液晶层的厚度在5um-50um之间。
4.根据权利要求1所述的液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特征在于，在步骤A中，所述液晶是介电系数异方性为正型的螺旋扭曲向列型液晶。
5.根据权利要求4所述的液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特征在于，所述液晶可以是被污染的液晶。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特征在于，所述液晶的双折射率在0.14-0.16之间。
7.根据权利要求1所述的液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特征在于，在步骤B中，所述带有偏光系统的光学放大系统的放大倍数在200倍以上。
8.根据权利要求7所述的液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特征在于，所述带有偏光系统的光学放大系统为偏光显微镜或者激光修复机。
9.根据权利要求1所述的液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特征在于，在步骤B中，所述带有偏光系统的光学放大系统具有反射光源和透射光源，反射光源和透射光源的亮度可调节。
10.根据权利要求9所述的液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特征在于，所述反射光源的亮度为80-220LUX，所述透射光源的亮度为0-10LUX。
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