[发明专利]一种基于测试向量相容的测试向量编码压缩方法

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路测试技术，尤其涉及一种基于测试向量相容的测试向量编码压缩方法。

背景技术

随着芯片制造技术的进步以及新的设计方法的产生，特别是向SOC设计方法的转变，大量的IP(Intellectual Property)核组合在一起形成片上系统(SOC，System-On-Chip)。导致芯片的复杂度直线上升，每个IP核的测试数据一般都十分庞大(为了达到很高的错误覆盖率)，测试时间变得冗长、测试数据量变得异常庞大，这就使得测试单个SOC所用的测试向量超出了测试设备性能允许的范围，测试成本急剧上升。测试成本已经成为芯片成本的主要组成部分，如何减少测试成本进而减少芯片成本成为研究人员日益关注的问题。BIST(Built-In-Self-Test)测试方法是能解决上述问题的方法之一，但具有芯片面积开销较大和难测故障等一些缺点，并且现有大量IP核并不具有BIST结构。通过测试数据的压缩/解压缩的方法可以解决测试设备性能不足的问题以及缩短测试时间。数据压缩主要包含两类：基于线性反馈移位寄存器LFSR(LinearFeedback Shift Register)的重播种技术和基于编码的技术。LFSR在压缩存在大量无关位的测试集时有很大的优势，不适合确定位个数过多的情况。基于编码的技术通过对测试集定长或者变长的序列进行编码，可以有效减少测试数据量。在测试集中有大量的无关位“x”存在，可以将“x”设为“0”或“1”；测试集中相邻的向量具有很好的相关性，它们之间只有很少的位数值是不同的。利用这个结果可以得到新的差分测试集，该集合具有更好的“0”的游程，编码效率更高；也可以合并相邻的向量，减少向量个数，对合并后的向量压缩，也能很大的提高压缩率。把压缩后的数据放入ATE(Automatic Test Equipment)内存中，由芯片的解码模块进行解码，还原测试向量，减少了测试机与被测芯片的带宽和测试时间。

发明内容

本发明的目的是针对当前只对单个向量进行编码而没有结合向量相容性的不足，提出一种基于向量相容的测试向量编码压缩方法。

基于向量相容的测试向量编码压缩方法包括测试向量的压缩和编码后的解压缩两部分，

测试向量的压缩包括如下步骤：

1)确定测试向量的编码；

2)由被测电路得到第一测试向量集R，选取第一测试向量集R中任一个第一向量t₁，将第一向量t₁从第一测试向量集R中移出，放入测试向量组S中，测试向量组S内的向量个数m为1，设第二测试向量集H，第二测试向量集H与第一测试向量集R相同；

3)从第二测试集H中找出与第一向量t₁相容性最大的第二向量t₂，并将第二向量t₂从第二测试集H中移出；

4)若n₂大于n_max，并且第二测试集H不是空集，则返回步骤3)，若第二测试集H为空集，则到步骤7)完成分组，若n₂小于n_max，则到步骤5)，其中，n_max为测试向量之间不相容位的最大个数，n_max的值可自定义，n₂为第一向量t₁与第二向量t₂不相容位的个数；

5)将第二向量t₂移入测试向量组S中，向量个数m的值增加1，求出第一向量t₁与第二向量t₂相容后的第四向量t₄；

6)对测试向量组S编码，计算第一测试向量组S的压缩率λ和第二向量t₂的压缩率λ_comp，判断第二向量t₂是否要从测试向量组S移出，若第二测试向量集H为空集，则到步骤7)，若第二测试向量集H不为空集，则到步骤3)；

7)完成对测试向量组S的分组，对测试向量组S编码，得到表示测试相量组S内向量个数m的编码M、表示不相容位个数n的编码N以及表示不相容位上值信息的编码Q，由第一向量t₁得到第六向量t₆，第六向量t₆的编码为T6_code，从第一测试向量集R中移出测试向量组S内的向量；

8)若第一测试向量集R为空集，则分组结束，若第一测试向量集R不为空集，则回到步骤2)开始下一测试向量组；

编码后的解压缩包括如下步骤：