[发明专利]基于层状目标侧面纹理分析的张数检测方法有效

专利信息
申请号: 200910087353.9 申请日: 2009-06-17
公开(公告)号: CN101763527A 公开(公告)日: 2010-06-30
发明(设计)人: 王欣刚;刘东昌 申请(专利权)人: 中国科学院自动化研究所
主分类号: G06M9/00 分类号: G06M9/00;G06T7/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 梁爱荣
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 层状 目标 侧面 纹理 分析 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于层状目标侧面纹理分析的张数检测方法,其特征在于:

步骤1:由工业摄像头或数字化仪器采集待检测层状目标的侧面纹理 图像,并将侧面纹理图像转化为数字图像;通过接口单元将数字图像读入 到图像处理系统中,然后对数字图像采用Gabor滤波器进行滤波处理,生 成纹理增强图像,再对纹理增强图像进行分段处理得到子图像集合;

步骤2:取分段后子图像集合中的一段子图像,运用图像分割方法分 割出要检测的纹理区域,生成相应的目标纹理图像;

步骤3:从目标纹理图像中抽取出表征张数纹理的一维数组;一维数 组获取有以下两种途径:途径一是对分割后的前景图像进行投影,图像投 影的方向同纹理延伸的方向相同,投影得到的一维数组;途径二是对分割 后的前景图像进行抽样,抽样曲线的方向沿着纹理的周期延拓方向,取样 得到的一维数组;

步骤4:分析处理上述一维数组,得到目标纹理图像的张数估计值, 保存此估计值;

步骤5:判断步骤2的子图像集合中的所有子图像是否处理完毕,如 果处理完毕,则执行步骤6,如果没处理完,则返回步骤2循环处理;

步骤6:统计步骤4中保存的所有估计值得到目标的张数。

2.根据权利要求1所述的基于层状目标侧面纹理分析的张数检测方 法,其特征在于,该层状目标的侧面纹理图像包含着具有周期性变化的层 状纹理;该层状目标的侧面纹理图像中的纹理具有方向一致性;该层状目 标的侧面纹理图像上具有非周期性的灰度变化或者干扰噪声。

3.根据权利要求1所述的基于层状目标侧面纹理分析的张数检测方 法,其特征在于,子图像集合是纹理增强图像沿着纹理延伸的方向分段得 到。

4.根据权利要求1所述的基于层状目标侧面纹理分析的张数检测方 法,其特征在于,图像分割采用基于边缘的分割方法,即是通过拟合边缘 中的直线来搜索目标纹理图像与背景图像的边界,通过边界界定目标纹理 区域。

5.根据权利要求1所述的基于层状目标侧面纹理分析的张数检测方 法,其特征在于,对一维数组的分析处理过程包括如下步骤:

①对一维数组在频域或空间域进行低通滤波处理得到滤波后数组;

②对滤波后数组中的波峰或波谷进行计数,得到张数估计值。

6.根据权利要求1所述的基于层状目标侧面纹理分析的张数检测方 法,其特征在于,目标的张数是对所有估计值求众数得到。

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