[发明专利]一种反向测试RFID读写器防碰撞能力的系统及方法有效
申请号: | 200910087130.2 | 申请日: | 2009-06-10 |
公开(公告)号: | CN101770587A | 公开(公告)日: | 2010-07-07 |
发明(设计)人: | 刘禹;关强;刘怀达;朱智源 | 申请(专利权)人: | 中国科学院自动化研究所 |
主分类号: | G06K17/00 | 分类号: | G06K17/00;G01R23/16;H01Q1/12;H01Q21/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 梁爱荣 |
地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 反向 测试 rfid 读写 碰撞 能力 系统 方法 | ||
1.一种反向测试RFID读写器防碰撞能力的系统,其特征在于: 包括测试空间、水平导轨、导轨滑块、标签支架、电子标签阵列、接 收天线支架、接收天线、发射天线支架、发射天线、滑块控制器、频 谱分析仪、待测读写器、控制计算机,其中:
测试空间为测试过程中温度、湿度、光照度和电磁辐射均保持稳 定的测试环境;
水平导轨、导轨滑块、标签支架、电子标签阵列、接收天线支架、 接收天线、发射天线支架、发射天线置于测试空间的内部;
滑块控制器、频谱分析仪、待测读写器、控制计算机置于测试空 间的外部;
水平导轨置于测试空间的水平地面上,导轨滑块与水平导轨机械 相连,标签支架置于导轨滑块上方,电子标签阵列置于标签支架上, 标签支架与测试空间的水平地面垂直;
发射天线置于发射天线支架的上方,发射天线支架的下方固定于 水平导轨的一端,发射天线与待测读写器通过射频馈线相连;
接收天线置于接收天线支架的上方,接收天线支架的下方固定于 水平导轨上并位于电子标签阵列与发射天线之间,接收天线与频谱分 析仪相连,用于捕获待测读写器和电子标签阵列之间的无线通信信号;
控制计算机通过数据线与滑块控制器、频谱分析仪及待测读写器 相连,分别用于向滑块控制器发送指令驱动导轨滑块沿着水平导轨方 向运动、配置待测读写器参数及接收待测读写器读取的结果数据、解 调频谱分析仪传回的信号并做统计;所述控制计算机向滑块控制器发 送指令驱动导轨滑块沿着水平导轨方向运动、配置待测读写器参数及 接收待测读写器读取的结果数据、解调频谱分析仪传回的信号并做统 计的具体步骤如下:
步骤1:设备初始化,分别建立控制计算机与待测读写器、频谱 分析仪、滑块控制器之间的通信连接,使待测读写器、频谱分析仪和 滑块控制器进入工作准备状态;
步骤2:在控制计算机端通过滑块控制器将导轨滑块从水平导轨 的一端移动至水平导轨另一端并靠近发射天线,在电子标签阵列处放 置一组数量为Ni个电子标签的阵列,i=1,2,3,…;
步骤3:通过控制计算机控制导轨滑块移动,使电子标签阵列中 的Ni个电子标签全部处于发射天线的有效读取范围内;
步骤4:通过频谱分析仪捕获待测读写器与电子标签之间的无线 通信信号,频谱分析仪分别统计无线通信信号中空闲时隙、成功读取 时隙及碰撞时隙所用的时间t0、t1、tk;
步骤5:通过频谱分析仪记录M次成功读取全部电子标签的无线 通信信号,频谱分析仪分别统计每次中空闲时隙、成功读取时隙及碰 撞时隙出现的次数c0m、c1m、ckm,并计算空闲时隙、成功读取时隙及 碰撞时隙出现次数的平均值为
步骤6:在控制计算机端计算多个电子标签读取吞吐率为:
步骤7:i=i+1,更换下一组电子标签阵列,回到步骤2,如果不 更换下一组电子标签阵列,则执行步骤8;
步骤8:全部电子标签阵列测试完毕后,在控制计算机端绘制横 坐标为电子标签数、纵坐标为吞吐率的曲线,其中,数据点为(Ni,Pti), 并将该待测读写器的吞吐率曲线与其它待测读写器的吞吐率曲线测试 结果放在同一图表中进行对比,相同的电子标签数量Ni下,吞吐率Pti越高则该待测读写器的防碰撞能力越强。
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