[发明专利]一种Al、F共掺杂ZnO基透明导电薄膜及其制备方法无效
申请号: | 200910086165.4 | 申请日: | 2009-06-09 |
公开(公告)号: | CN101575697A | 公开(公告)日: | 2009-11-11 |
发明(设计)人: | 马瑞新;王目孔;康勃;王永刚;赵素丽;章菊萍;王媛媛 | 申请(专利权)人: | 北京科技大学 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 al 掺杂 zno 透明 导电 薄膜 及其 制备 方法 | ||
1.一种Al、F共掺杂的ZnO基透明导电薄膜的制备方法,其特征在于利用射频磁控溅射设备,采用Al、F共掺杂的靶材在基片上沉积制备出具有高导电性、高可见光透过率的ZAFO透明导电薄膜,包括以下步骤:
1),首先制作ZAFO靶材,利用AlF3、Al2O3和ZnO粉体,经过均匀混合后,制成ZAFO靶材;ZAFO靶材中含有0.5~3.0wt%的Al,0.82~3.28wt%的F,其余为ZnO;
2),将步骤1)制作的ZAFO靶材,安装在射频磁控溅射沉积设备真空室内,用机械泵、分子泵把真空室的真空度抽到压强小于3×10-3Pa,同时将基片温度加热到25℃~500℃;
3),射频磁控溅射镀膜,通过调节沉积工艺参数,采用射频磁控溅射在基片上制备ZAFO透明导电薄膜;
沉积工艺参数:真空室真空度为10~3×10-4Pa;溅射气氛为高纯Ar气;流量为30sccm;溅射压强为0.3~0.7Pa;溅射功率为100~150W;直流偏压在100~220V;靶材基片距离为60mm;溅射时间为600~3000s;基片包括:石英片、硅片或各种玻璃基片。
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