[发明专利]一种对硅片进行气体线切割的装置无效
申请号: | 200910083497.7 | 申请日: | 2009-05-06 |
公开(公告)号: | CN101880878A | 公开(公告)日: | 2010-11-10 |
发明(设计)人: | 景玉鹏;惠瑜 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | C23F1/08 | 分类号: | C23F1/08;H01L21/78;B81C5/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 硅片 进行 气体 切割 装置 | ||
1.一种对硅片进行气体线切割的装置,其特征在于,该装置包括流量控制器(1)、减压阀(2)、压力表(3)、真空泵(4)、真空腔压力表(5)、真空腔温度控制装置(6)、真空腔室(7)、喷头(8)、掩蔽板(9)、硅片架(10)、后级泵(11)和尾气处理装置(12),其中:减压阀(2)、真空泵(4)、真空腔压力表(5)、真空腔温度控制装置(6)和后级泵(11)分别连接于真空腔室(7),气体依次通过流量控制器(1)、减压阀(2)和喷头(8)进入真空腔室(7),然后经过掩蔽板(9)的掩蔽和束流汇聚调节,对硅片架(10)上的硅片进行切割,真空腔室(7)通过真空腔温度控制装置(6)将温度控制在室温环境下,刻蚀完的尾气通过后级泵(11)抽出真空腔室(7),并由后级泵(11)进入尾气处理装置(12)。
2.根据权利要求1所述的对硅片进行气体线切割的装置,其特征在于,所述气体为三氟化氯。
3.根据权利要求1所述的对硅片进行气体线切割的装置,其特征在于,所述真空泵(4)对真空腔室(7)进行抽真空,将真空腔室(7)内的压力维持在10-7atm,通过真空腔压力表(5)监视真空腔室(7)内的压力。
4.根据权利要求1所述的对硅片进行气体线切割的装置,其特征在于,所述流量控制器(1)一端连接于存储气体的钢瓶,一端通过减压阀(2)连接于真空腔室(7),气体通过流量控制器(1)调节流量,再经过减压阀(2)减压,最后经过喷头(8)进入真空腔室(7)。
5.根据权利要求1所述的对硅片进行气体线切割的装置,其特征在于,所述气体经过减压阀(2)减压后压力减到10Pa,并通过压力表(3)指示压力,此时混合气体压力与背景压力比为1000。
6.根据权利要求1所述的对硅片进行气体线切割的装置,其特征在于,所述气体从喷头(8)喷出,经过掩蔽板(9)的掩蔽和束流汇聚调节,打到硅片架(10)上的硅片上,在气体的化学腐蚀的作用下,切割硅片。
7.根据权利要求1所述的对硅片进行气体线切割的装置,其特征在于,所述尾气处理装置(12)采用氢氧化钙或小苏打对尾气进行吸收处理。
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