[发明专利]三维显微CT扫描系统中射线源焦点的投影坐标的标定方法无效
申请号: | 200910079277.7 | 申请日: | 2009-03-06 |
公开(公告)号: | CN101515370A | 公开(公告)日: | 2009-08-26 |
发明(设计)人: | 杨民;李保磊;韩春梅;刘静华;吴文晋;王钢 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;A61B6/03;G01N23/04 |
代理公司: | 北京永创新实专利事务所 | 代理人: | 周长琪 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 三维 显微 ct 扫描 系统 射线 焦点 投影 标的 标定 方法 | ||
1.一种适用于三维显微CT扫描系统射线源焦点的投影坐标的标定方法,其特征在于:该方法是通过在位于射线源(1)和面阵探测器(5)之间的扫描台(3)上放置一支撑架(4),并在支撑架(4)上任意安装A圆球(11)、B圆球(12);当射线源(1)射出的锥束射线(2)分别照射到A圆球(11)、B圆球(12)上时,由面阵探测器(5)采集到A圆球(11)、B圆球(12)在成像平面(51)上的A椭圆投影(21)、B椭圆投影(22);利用图像、图形处理方法,分别提取A椭圆投影(21)、B椭圆投影(22)的轮廓上的序列点坐标,基于各自的轮廓上的序列点坐标,利用最小二乘拟合法分别得到两个椭圆投影长轴直线方程,最后求解该两个长轴直线方程的交点P′(λX,λZ),该交点P′即为射线源焦点P在面阵探测器(5)的成像平面(51)内的投影坐标;
所述的适用于三维显微CT扫描系统射线源焦点的投影坐标的标定方法,其具体如下实施步骤:
步骤一:调整射线源(1)的中心射线PP′与面阵探测器(5)的成像平面(51)垂直,成像平面(51)的坐标系记为XOZ;
射线源焦点P在成像平面(51)上的投影点记为P′,投影点P′在成像平面(51)的坐标系XOZ下的坐标记为(λX,λZ);
步骤二:将A圆球(11)、B圆球(12)安装在支撑架(4)上,支撑架(4)安装在扫描台(3)上,从射线源(1)射出的锥束射线(2)照射到A圆球(11)、B圆球(12)上,用面阵探测器(5)采集A圆球(11)、B圆球(12)分别在成像平面(51)中的A椭圆投影(21)、B椭圆投影(22);
所述A椭圆投影(21)、B椭圆投影(22)均为DR图像;
步骤三:对A椭圆投影(21)进行边缘检测、阈值分割、轮廓细化、轮廓追踪的DR图像处理,获得A椭圆投影(21)的轮廓上的序列点坐标,即轮廓点序列A;
用最小二乘拟合法对轮廓点序列A进行拟合得到A椭圆投影(21)的长轴直线方程,即长轴直线A方程kA表示A椭圆投影(21)的长轴直线的斜率,表示A椭圆投影(21)的中心点的Z坐标,表示A椭圆投影(21)的中心点的X坐标,X表示在成像平面(51)坐标系XOZ下的X轴上的参数,Z表示在成像平面(51)坐标系XOZ下的Z轴上的参数;
对B椭圆投影(22)进行边缘检测、阈值分割、轮廓细化、轮廓追踪的DR图像处理,获得B椭圆投影(22)的轮廓上的序列点坐标,即轮廓点序列B;用最小二乘拟合法对轮廓点序列B进行拟合得到B椭圆投影(22)的长轴直线方程,即长轴直线B方程kB表示B椭圆投影(22)的长轴直线的斜率,表示B椭圆投影(22)的中心点的Z坐标,表示B椭圆投影(22)的中心点的X坐标,X表示在成像平面(51)坐标系XOZ下的X轴上的参数,Z表示在成像平面(51)坐标系XOZ下的Z轴上的参数;
求解方程组得到长轴直线A和长轴直线B的交点P′(λX,λZ),该交点P′即为射线源焦点P在探测器的成像平面(51)内的投影坐标。
2.根据权利要求1所述的适用于三维显微CT扫描系统射线源焦点的投影坐标的标定方法,其特征在于:对双球体进行一次DR成像,且双球体在支撑架(4)上的安装位置为任意。
3.根据权利要求1所述的适用于三维显微CT扫描系统射线源焦点的投影坐标的标定方法,其特征在于:射线源(1)与扫描台(3)之间的距离记为D,射线源(1)与面阵探测器(5)之间的距离记为D′,则有
4.根据权利要求1所述的适用于三维显微CT扫描系统射线源焦点的投影坐标的标定方法,其特征在于:支撑架(4)上的A圆球(11)、B圆球(12)的直径为3~8mm。
5.根据权利要求1所述的适用于三维显微CT扫描系统射线源焦点的投影坐标的标定方法,其特征在于:射线源(1)的焦点P的尺寸为微米级。
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