[发明专利]一种测试向量的调节对比方法

说明书

技术领域

本技术主要应用于逻辑芯片IC测试领域，特别是一种测试向量的调节对比方 法。

背景技术

众所周知，提高测试效率的关键在于缩短测试时间。要保障芯片逻辑功能的 正确性就必须提高故障覆盖率，为了达到这个目的必须创建测试向量进行测试。 由于测试向量的容量大导致测试时间过长，是当前测试效率低、成本高的主要原 因。

IC功能测试用于保证被测器件能够正确完成预期功能。为了达到这个目的必 须先建立测试向量，才能进行检测代测器件的错误。测试向量也称作图形或者真 值表----由输入和输出状态组成，具有以下三种状态：

1、逻辑0，输入输出0状态；

2、逻辑1，输入输出1状态；

3、忽略(X)，没有输入或者输出不需要比较状态。

测试向量分为：

1、输入数据测试向量----需要送入待测系统的数据；

2、标准数据测试向量----期望IC回流的数据；

3、回流数据测试向量----IC实际回流的数据。

如图1所示，在现有的测试平台中是将回流数据测试向量全部存到存储器中， 再由后台从存储器中取出回流数据测试向量与标准数据测试向量进行比较。

在扫描链的测试中数据量大这是众所周知的，而数据量大直接影响测试时间。 在现有的测试方法中是将回流数据先放在存储器中，再由后台软件进行处理，这 样不仅测试速度慢而且需要较大的存储空间。

同时，后台软件的处理速度远远比不上硬件处理的速度。而现有技术对忽略 数据位的处理是采用后台软件将标准数据测试向量中的忽略信息提取出来，当检 测到是忽略数据后控制将其忽略，使之不参与比较。这样的处理方法使得标准数 据测试向量与回流数据测试向量的比较要慢一个节啪，而这部分时间大都消耗在 了后台软件对忽略数据位的处理。这样又大大增加了测试的时间。

发明内容

本发明为解决上述问题，提供了一种测试向量的调节对比方法，回流数据不 需要放回存储器，忽略数据位参与比较，可以大大节省存储空间，而且测试时间 较短。

本发明的技术方案如下：

一种测试向量的调节对比方法，将存储器中的数据测试向量输入至待测系统， 待测系统输出回流数据测试向量，在存储器中的标准数据测试向量和回流数据测 试向量进行对比的过程中，其特征在于：首先判断标准数据测试向量是否含有忽 略数据，当含有忽略数据时，对忽略数据进行解码，并将忽略数据的位置屏蔽， 生成屏蔽数据测试向量，同时将回流数据测试向量相同的位置也屏蔽，然后将屏 蔽数据测试向量与回流数据测试向量进行比较判断是否相同；当不含有忽略数据 时，标准数据测试向量与回流数据测试向量直接进行比较判断是否相同。

所述屏蔽数据测试向量与标准数据测试向量等位宽。

实现上述方法的调节对比电路，其特征在于：

设置有一个忽略数据位调节模块，用于判断忽略数据，对忽略数据进行解码， 并将忽略数据的位置屏蔽，生成屏蔽数据测试向量；

设置有一个比较模块，用于标准数据测试向量与回流数据测试向量进行比较；

所述忽略数据位调节模块对标准数据测试向量进行判断，当含有忽略数据时， 对忽略数据进行解码，并将忽略数据的位置屏蔽，生成屏蔽数据测试向量，然后 通过比较模块对屏蔽数据测试向量与回流数据测试向量进行判断是否相同；当不 含有忽略数据时，直接通过比较模块对标准数据测试向量与回流数据测试向量进 行比较判断是否相同。

所述忽略数据位调节模块包括标准数据测试向量数据通道。

所述忽略数据位调节模块为一个逻辑电路，永远处于激活状态。

对标准数据测试向量的忽略数据的位置进行屏蔽时，该位置被置成逻辑0，其 他位被置成逻辑1；同时，回流数据测试向量相同的位置也置成逻辑0，其他位被 置成逻辑1。

所述比较模块包括两个与门，所述标准数据测试向量、回流数据测试向量分 别输入至两个与门，然后通过异或操作，得出比较结果，两个数据如果相同测输 出0，相异则输出为1。

本发明的有益效果如下：

本方法采用硬件实时比较，回流数据不需要放回存储器，从而可以大大节省 存储空间；由于是硬件实时对比的方法，忽略数据位经过特殊处理后参与比较， 这样测试时间较短。

附图说明