[发明专利]一种大数量LED灯具长时同时在线光电检测方法及其装置有效
申请号: | 200910056425.3 | 申请日: | 2009-08-14 |
公开(公告)号: | CN101625400A | 公开(公告)日: | 2010-01-13 |
发明(设计)人: | 李抒智;杨卫桥;马可军;庄松林;苏锦文;施诚良 | 申请(专利权)人: | 上海半导体照明工程技术研究中心;上海光学仪器研究所 |
主分类号: | G01R31/44 | 分类号: | G01R31/44;G01J1/42;G08C17/02 |
代理公司: | 上海三和万国知识产权代理事务所 | 代理人: | 蔡海淳 |
地址: | 201203上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 数量 led 灯具 同时 在线 光电 检测 方法 及其 装置 | ||
技术领域
本发明属于测试领域,尤其涉及一种用于对灯具使用寿命的测试方法及其装置。
背景技术
近几年,随着人们生活水平的提高,城市亮化工程和高速公路网的发展,对室内 照明、道路照明及建筑物的泛光照明的要求日益提高,因此对各种LED照明光源和 LED灯具的需求量越来越大,要求也不断提高,同时也推动了LED照明灯具行业的 飞速发展,各种高效、节能的LED新型灯具也不断出现。
评价任何一种LED灯具的品质如何,关键是要看其在实际应用中能达到什么样 的照明效果和其实际使用寿命如何。
只有在实际应用中产生良好照明效果和具有较长使用寿命的LED灯具才是优质 的灯具。
LED器件是高效长寿命的新光源,一般寿命可长达几万小时。
LED灯具寿命测试,和其它光源一样,也有加速老化的测试方法和不加速老化 的一般测试方法两种。加速老化测试方法,需要有加速机制的理论和试验等效性证明; 最为直观的是不加速老化测试。
根据《国家半导体照明工程研发及产业联盟推荐性技术规范LB/T001-2008》 (2008年7月1日发布、2008年9月1日起实施),LED路灯的寿命测量,不采用加 速老化的测试方法。
不论采用何种测试方法,LED灯具的寿命试验,都需要对灯具进行长时间的在 线通电“点亮”测试,这是一项十分耗时的测试工作。
现有的灯具测试系统,在进行在线通电“点亮”测试时,通常是一对一地进行, 即一套灯具对应一套测试系统,由于在长时间的“点亮”测试过程中,数据的采样频 率为分钟/次或数十分钟/次,故作为测试系统中的重要组成部分-装载有测试/ 记录软件的微机系统,在这种测试方式下的利用率是非常低的。
为便于测试系统同时进行大数量(对一个国家级的检测中心而言,通常会是几十 套或上百套)、长时间(通常至少为数千小时)的LED灯具的寿命测试评价,为需 要其全测试过程的集中管理和测试数据的集中处理,需要采用大数量、甚至几百个 LED灯具同时在线的光电检测新方法。
为了充分发挥装载有测试/记录软件的微机系统的作用,在采用光电检测元件/ 探测器为检测源的LED灯具寿命检测系统(如同本申请人此前申请的,申请号为CN 200910054184.9,名称为“一种LED灯具流明效率测试方法”以及申请号为CN 200920077654.9,名称为“一种LED灯具流明效率测试装置”中所公开的测试方法/ 装置)中,采用多对一的系统结构(即多套灯具光电探测器检测源及其附属的信号变 换/传输单元,对应一套测试/记录微机系统)是十分有必要且可行的;现在微机的 运行速度和数据处理能力,使得一套测试/记录微机系统完全可以同时胜任/应对上 百台/套光电检测源的数据处理和记录工作。
在上述技术方案中,从位于现场的多套灯具光电探测器检测源到测试/记录微机 系统之间的信号传输,若采用有线传输方式,会带来大量的接线、布线、敷设以及汇 线槽的架设等问题,如果某条线路出现问题,其线路的查找/分辨是十分困难的,会 给整个技术方案的实施带来无法克服的困难。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种大数量LED灯具长时同时在线光电检测 方法及其装置,其采用带有地址编码的近程无线信号传输方式,使得多对一的LED灯 具寿命测试系统结构得以容易的实现,避免了有线信号传输方式的诸多弊端,可同时 实施大数量LED灯具长时光衰减的在线测试,可对大数量LED灯具寿命测试的集中 管理和测试数据的集中处理,其整套测试系统占用空间更小,无需对现有建筑结构进 行变动/处理或敷设汇线槽/电缆桥架,且更加便于维护。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海半导体照明工程技术研究中心;上海光学仪器研究所,未经上海半导体照明工程技术研究中心;上海光学仪器研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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