[发明专利]影像感光组件的间隙的校正用组件、对应方法与补偿方法有效
| 申请号: | 200910055205.9 | 申请日: | 2009-07-23 |
| 公开(公告)号: | CN101964858A | 公开(公告)日: | 2011-02-02 |
| 发明(设计)人: | 余万章 | 申请(专利权)人: | 上海中晶科技有限公司 |
| 主分类号: | H04N1/03 | 分类号: | H04N1/03;H04N1/031 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈亮 |
| 地址: | 200233 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 影像 感光 组件 间隙 校正 对应 方法 补偿 | ||
1.一种校正用组件,包含:
一像素单位数组,其包含多条平行间隔的经线及多条平行间隔的纬线,每一该经线与每一该纬线相交以定义出多个像素单位布满该像素单位数组;以及
一图案,其分布于该像素单位数组中,其中该图案由部分该些像素单位所构成,且构成该图案的该些像素单位具有一灰阶不同于该像素单位数组中的其它该些像素单位,且其中该图案包含多条平行间隔的条状,每一该条状不平行该些经线及该些纬线。
2.如权利要求1所述的校正用组件,其特征在于,该图案还包含一水平条状与该些经线或该些纬线平行,且该水平条状的一长度与该像素单位数组的一边长相等。
3.如权利要求2所述的校正用组件,其特征在于,该水平条状与该些条状不相交。
4.如权利要求1所述的校正用组件,其特征在于,该些条状与任一该经线或任一该纬线有一45度夹角。
5.如权利要求1所述的校正用组件,其特征在于,该些像素单位的几何形状为矩形。
6.如权利要求1所述的校正用组件,其特征在于,该些经线或该些纬线为直线。
7.如权利要求1所述的校正用组件,其特征在于,该些经线或该些纬线为曲线。
8.如权利要求1所述的校正用组件,其特征在于,该图案包含多个黑色像素单位,其它的像素单位则为白色。
9.一种影像感光组件的间隙的对应方法,包含:
提供一校正用组件,该校正用组件包含:
一像素单位数组,其包含多条平行间隔的经线及多条平行间隔的纬线,每一该经线与每一该纬线相交以定义出多个像素单位布满该像素单位数组;以及
一图案,其分布于该像素单位数组中,其中该图案由部分该些像素单位所构成,且构成该图案的该些像素单位具有一灰阶不同于该像素单位数组中的其它该些像素单位,且其中该图案包含多条平行间隔的条状,每一该条状不平行该些经线及该些纬线;
取得该校正用组件的一扫描影像;
设定一比对程序,其中该比对程序包含:
根据该图案的一图案特性设定该图案的一目标像素单位与一比对像素单位;以及
比对该目标像素单位的灰阶与该比对像素单位的灰阶是否一致以得到灰阶不一致的计数;
执行该比对程序于该扫描影像上;以及
根据该计数计算一间隙值与储存灰阶不一致的该些目标像素单位与该些比对像素单位于该校正用组件上的一坐标与该间隙。
10.如权利要求9所述的影像感光组件的间隙的对应方法,其特征在于,提供该校正用组件的步骤包含设定该图案的该些像素单位为黑色,以及该其它的像素单位为白色。
11.如权利要求9所述的影像感光组件的间隙的对应方法,其特征在于,设定该比对程序的步骤包含设定该图案特性为直线的斜率以使该目标像素单位与该比对像素单位呈一对角线的位置关系。
12.一种扫描影像的补偿方法,包含:
提供一校正用组件,该校正用组件包含:
一像素单位数组,其包含多条平行间隔的经线及多条平行间隔的纬线,每一该经线与每一该纬线相交以定义出多个像素单位布满该像素单位数组;以及
一图案,其分布于该像素单位数组中,其中该图案由部分该些像素单位所构成,且构成该图案的该些像素单位具有一灰阶不同于该像素单位数组中的其它该些像素单位,且其中该图案包含多条平行间隔的条状,每一该条状不平行该些经线及该些纬线;
取得该校正用组件的一扫描影像与一目标对象的一扫描影像;
设定一比对程序,其中该比对程序包含:
根据该图案的一图案特性设定该图案的一目标像素单位与一比对像素单位;以及
比对该目标像素单位的灰阶与该比对像素单位的灰阶是否一致以得到灰阶不一致的计数;
执行该比对程序于该校正用组件的该扫描影像上;
根据该计数计算一间隙值与储存灰阶不一致的该些目标像素单位与该些比对像素单位于该校正用组件上的一坐标与该间隙;以及
根据该坐标与该间隙插入一像素值于该目标对象的该扫描影像中。
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