[发明专利]比特可靠性映射的校验矩阵预处理方法无效

专利信息
申请号: 200910054598.1 申请日: 2009-07-09
公开(公告)号: CN101604976A 公开(公告)日: 2009-12-16
发明(设计)人: 周洪源;崔靖;俞晖;徐友云;夏之晟 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: H03M13/11 分类号: H03M13/11
代理公司: 上海交达专利事务所 代理人: 王锡麟;王桂忠
地址: 200240*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 比特 可靠性 映射 校验 矩阵 预处理 方法
【权利要求书】:

1.一种可靠性映射的校验矩阵预处理的方法,其特征在于,包括以下步骤:

第一步、根据调制方式确定调制符号中不同比特位的抗干扰能力,将抗干 扰能力降序排列后分为L个抗干扰能力等级,L为大于等于1,小于等于调制符 号比特位个数的整数;

第二步、检测校验矩阵中的每个比特节点的列重,并对该校验矩阵选择排 序方法;

第三步、按照抗干扰能力等级将排序后的校验矩阵划分为L块列数相等的 子矩阵,每块子矩阵的列数相等,子矩阵的列数记为C,然后进行比特映射;

第四步、对分块并比特映射后的校验矩阵进行重排,重排后的校验矩阵列 号分别为:

j′=j%C×L+[j/C],

其中:j为重排前校验矩阵的列号,j=0,1,…,N-1,j′为重排后校验矩阵 的列号,j′=0,1,…,N-1;N为校验矩阵的列数,符号%表示取余,符号[]表示 取整。

2.根据权利要求1所述的可靠性映射的校验矩阵预处理的方法,其特征是, 所述的排序方法,具体是指以下两种方法:

a)将各个比特节点按列重降序排列,得到列重降序排列的校验矩阵;

b)将各个比特节点按列重升序排列,得到列重升序排列的校验矩阵。

3.根据权利要求2所述的可靠性映射的校验矩阵预处理的方法,其特征是, 所述的比特映射,具体为以下两种之一:

对将LDPC码字中度数较高的比特节点映射到调制符号中抗干扰能力较强 的比特位上的策略,将采用列重降序排列的校验矩阵,使得第m个子矩阵中的 比特将被映射到调制符号中第m个抗干扰能力等级所在的比特位,其中:m=1, 2,…,L;

对将LDPC码字中度数较低的比特节点映射到调制符号中抗干扰能力较强 的比特位上的策略,将采用列重升序排列的校验矩阵,使得第n个子矩阵中的比 特将被映射到调制符号中第n个抗干扰能力等级所在的比特位,其中,n=1,2,…, L。

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