[发明专利]数字基带芯片中I2C模块的自动测试电路结构及其方法

权利要求书

1.一种数字基带芯片中I2C模块的自动测试电路结构，包括数字基带芯片中的通用输入输出GPIO端口，其特征在于，所述的数字基带芯片中的I2C模块与所述的通用输入输出GPIO端口相连接。

2.根据权利要求1所述的数字基带芯片中I2C模块的自动测试电路结构，其特征在于，所述的通用输入输出GPIO端口包括第一GPIO端口和第二GPIO端口，所述的I2C模块中的时钟端口与所述的第一GPIO端口相连接，所述的I2C模块中的数据收发端口与所述的第二GPIO端口相连接。

3.一种基于权利要求1所述的电路结构实现数字基带芯片中I2C模块的自动测试的方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤：

(1)对数字基带芯片中的I2C模块进行复位操作；

(2)对所述的I2C模块中的工作寄存器及所述的通用输入输出GPIO端口的工作寄存器进行初始化处理；

(3)将所述的I2C模块使能，并根据I2C协议的工作方式进行I2C模块和通用输入输出GPIO端口之间的数据发送接收测试操作；

(4)检验所述的通用输入输出GPIO端口的测试数据和所述的I2C模块的缓存数据的一致性；

(5)改变所述的I2C模块的测试参数，重复上述步骤(2)～(4)。

4.根据权利要求3所述的实现数字基带芯片中I2C模块的自动测试的方法，其特征在于，所述的I2C协议的工作方式为I2C模块作为主机发送数据，所述的I2C模块和通用输入输出GPIO端口之间的数据发送接收测试操作，包括以下步骤：

(11)所述的数字基带芯片向I2C模块的发送缓存中写入测试数据；

(12)所述的I2C模块向所述的通用输入输出GPIO端口发送时钟信号；

(13)所述的通用输入输出GPIO端口检测所述的I2C模块所发送来的起始信号、地址字节以及写控制信号，以字节为单位开始接收测试数据，并发送响应信号；

(14)在测试数据接收过程中根据I2C协议对接收时序进行判断，如果相应的接收时序与I2C协议不符，则将测试标志位设置为出错状态；

(15)所述的通用输入输出GPIO端口检测到所述的I2C模块所发送来的停止信号后结束接收。

5.根据权利要求4所述的实现数字基带芯片中I2C模块的自动测试的方法，其特征在于，所述的改变I2C模块测试参数，包括以下的一个方式或者多个方式：

(a)改变发送数据长度；

(b)改变地址模式为7bit或10bit；

(c)改变工作模式为起始字节模式或者广播呼叫模式。

6.根据权利要求3所述的实现数字基带芯片中I2C模块的自动测试的方法，其特征在于，所述的I2C协议的工作方式为I2C模块作为主机接收数据，所述的I2C模块和通用输入输出GPIO端口之间的数据发送接收测试操作，包括以下步骤：

(21)所述的数字基带芯片将I2C模块的接收缓存清空；

(22)所述的I2C模块向所述的通用输入输出GPIO端口发送时钟信号；

(23)所述的通用输入输出GPIO端口检测所述的I2C模块所发送来的起始信号、地址字节以及读控制信号，开始发送测试数据，每发送完一个字节，等待接收I2C模块的响应信号；

(24)在测试数据发送过程中根据I2C协议对发送时序进行判断，如果相应的发送时序与I2C协议不符，则将测试标志位设置为出错状态；

(25)所述的通用输入输出GPIO端口接收到所述的I2C模块所发送来的不响应位或者停止信号后结束发送。

7.根据权利要求6所述的实现数字基带芯片中I2C模块的自动测试的方法，其特征在于，所述的改变I2C模块测试参数，包括以下的一个方式或者多个方式：

(a)改变接收数据长度；

(b)改变地址模式为7bit或10bit；

(c)改变工作模式为起始字节模式或者广播呼叫模式。