[发明专利]碳纳米管薄膜场效应晶体管的制备方法有效

专利信息
申请号: 200910049406.8 申请日: 2009-04-16
公开(公告)号: CN101540285A 公开(公告)日: 2009-09-23
发明(设计)人: 陈长鑫;胡林;张亚非;潘晓艳;张伟 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L21/208;H01L21/3065;C25D15/00
代理公司: 上海交达专利事务所 代理人: 王锡麟;王桂忠
地址: 200240*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 纳米 薄膜 场效应 晶体管 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种碳纳米管薄膜场效应晶体管的制备方法,其特征在于包括如下步骤:

第一步,采用自组装方法在微电极之间形成碳纳米管薄膜,具体步骤包括:

a、将清洗干净的带绝缘层硅片浸泡在H2SO4和H2O2混合溶液中;

所述H2SO4和H2O2混合溶液中,H2SO4和H2O2体积比范围为1-6∶1,浸泡时间为0小时到24小时,浸泡温度为0-100度;

b、将冲洗干净的带绝缘层硅片浸泡在过硫酸胺溶液中;

c、将烘干后的带绝缘层硅片在碳纳米管悬浮液中浸泡,使碳纳米管在硅片上自组装形成碳纳米管薄膜;

d、采用光刻技术在碳纳米管薄膜上制作出源漏电极图案;

第二步,去除金属性碳纳米管,得到具有良好性能的碳纳米管薄膜场效应晶体管;

所述去除金属性碳纳米管采用以下两种方案中一种:

方案一:在室温到600℃范围,0.01Pa到100000Pa压强下,采用等离子体刻蚀,去除金属性碳纳米管;

方案二:先施加栅压使半导体性碳纳米管截止,然后接源漏电压,使源漏电流从金属性的碳纳米管上通过,将金属性的碳纳米管烧断,留下半导体性的碳纳米管。

2.根据权利要求1所述的碳纳米管薄膜场效应晶体管的制备方法,其特征是,所述将冲洗干净的硅片浸泡在过硫酸胺溶液中,其时间为0-24h,过硫酸胺溶液中H2O和过硫酸胺的体积比范围为5-10000∶1。

3.根据权利要求1所述的碳纳米管薄膜场效应晶体管的制备方法,其特征是,所述将烘干后的硅片在碳纳米管悬浮液中浸泡,是指将烘干后的硅片在浓度为0.1-10mg/ml的碳纳米管悬浮液中浸泡0-72h。

4.根据权利要求1所述的碳纳米管薄膜场效应晶体管的制备方法,其特征是,所述的等离子体发生气体是甲烷与氩气的混合气体,或者氢气,等离子体功率为10-500W范围,处理时间10s-60min,反应腔室压强为30-200Pa,反应温度为0-700℃。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学,未经上海交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910049406.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top