[发明专利]一种用于测量圆柱体导体材料参数的装置及其方法无效

专利信息
申请号: 200910047900.0 申请日: 2009-03-20
公开(公告)号: CN101839967A 公开(公告)日: 2010-09-22
发明(设计)人: 杜向阳;程武山;范狄庆;余遒 申请(专利权)人: 上海工程技术大学
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12;G01R27/02
代理公司: 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 代理人: 何葆芳
地址: 200336 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 测量 圆柱体 导体 材料 参数 装置 及其 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及电磁参数测量技术领域,具体指一种利用涡流检测技术原理,检测圆柱体导体材料参数的装置及其方法。

背景技术

目前采用涡流检测技术的测量仪器,只能进行产品的单一参数的测量,如磁导率μ或电导率σ,然后通过这个单一参数对产品进行分析、研究和选材。但是,有些不同的物质材料却具有相同的某一种参数值,那么,对于这些材料,通过现有的涡流检测方法是无法加以区分的。本发明装置采用了差动式双参数(磁导率μ和电导率σ)测量技术既克服了单参数的不足,与多参数绝对式测量装置相比,分辨率得到了进一步的提高。

发明内容

本发明的目的是为克服上述现有技术存在的缺失,而提出一种利用涡流检测技术原理的装置可用于参数的测量,即通过本装置可同时检测多项参数。

该装置使用了两组相同的通过式感应线圈(工作线圈和比较线圈),这些线圈组中的磁化线圈中的电流为正弦电流,电流的频率由振荡电源中的振荡器产生。工作线圈和比较线圈中的测量线圈的圈数是完全相同的(W2),这些线圈的内部被放置标准件和被测工件。另外装置还接有电压表V和相位表

图中的振荡电源和频率计由计算机仿真,使用虚拟仪器软件LabVIEW的图形编程G语言编程实现,然后通过美国国家仪器公司NI的数据卡6251输出。

本发明一种测量圆柱体导体材料参数的装置(如附图1所示),包括信号发生器、频率计、电流表、电压表、相位表,工作线圈、比较线圈及经与其连接的数据卡和计算机作电信号的方式连接构成。

其中,工作线圈,比较线圈完全相同的线圈;AI.0,AI.1引脚为数据卡模拟输入口,AO.0为模拟输出口。

本发明基于下述工作原理

根据欧姆定理和圆柱形导体的磁场渗透公式,得到空载时的传感器线圈内的磁流Φ0和插入圆柱导体以后圆柱导体横截面上渗透的磁流Φ2为:

Φ0=B0S=μ0H0παπ2---(1)]]>

Φ2=sB ds---(2)]]>

其中:

B0-空载时传感器线圈内的磁感应强度;

H0-插入圆柱导体时圆柱导体体外的磁场强度;

απ-传感器工作线圈的半径;

μ0-真空磁导率,4π×10-7H/m;

B-插入圆柱导体时圆柱导体横截面上的磁感应强度;

S-导体横截面积;

利用贝塞尔公式推导公式(2),可得:

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