[发明专利]一种无铅压电织构厚膜及其制备方法无效
申请号: | 200910046632.0 | 申请日: | 2009-02-25 |
公开(公告)号: | CN101486570A | 公开(公告)日: | 2009-07-22 |
发明(设计)人: | 翟继卫;付芳;丁西亚 | 申请(专利权)人: | 同济大学 |
主分类号: | C04B35/468 | 分类号: | C04B35/468;C04B35/495;C04B35/622 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 | 代理人: | 许亦琳 |
地址: | 200092上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 压电 织构厚膜 及其 制备 方法 | ||
技术领域
本发明属于无铅压电材料领域,具体涉及一种无铅压电厚膜织构化的方法。
背景技术
压电材料是一类重要的高技术功能材料,在工业、民用及军事产品上的应用十分广泛。 目前应用最广的是钙钛矿型的锆钛酸铅(PZT)基压电材料,但是其中PbO的含量高达70%,在 制备、使用及废弃后处理过程中会对人类和环境造成严重的危害。近年来,随着人们环保意 识的增强,压电材料的无铅化成为亟待解决的热点问题之一。
无铅压电材料主要有四种,分别是铋层结构化合物、钛酸铋钠基、钛酸钡(BaTiO3,简 称BT)基及碱金属铌酸盐基无铅压电材料。铋层结构及钛酸铋钠基压电材料尽管居里温度高, 大多都在600℃以上,但是其压电性能较差,钛酸铋钠陶瓷的d33仅有60pC/N,而钛酸铋陶瓷 只有20pC/N。BT是最早研究的无铅压电材料,其研究已经相当成熟,压电性能在无铅压电 材料中较高,BT压电陶瓷的d33在190pC/N,但是其居里温度较低,仅有120℃。碱金属铌酸 盐压电材料的压电性能低于BT,其中铌酸钾钠(K0.5Na0.5NbO3,简称KNN)经过热压烧结后的 d33也仅有160pC/N,但是其居里温度较高,达到了420℃,可用于高温环境。
目前无铅压电材料的压电性能还远不如PZT基压电材料,因此提高无铅压电材料的压电 性能成为研究的热点。目前大多数研究者主要是通过掺杂对无铅压电材料进行改性,从而提 高其压电性能。近年来也有一些学者将研究重点转移到了压电陶瓷的织构化方面,以期通过 结构改性来提高其压电性能。无铅压电陶瓷的织构化程度可以通过Lotgering’s factor(F.K. Lotgering.Topotactical Reactions with Ferrimagnetic Oxides having Hexagonal Crystal Structures-I.Journal of Inorganic and Nuclear Chemistry,9(2)(1959):113-123)进行表征。 Yasuyoshi Saito(Yasuyoshi Saito,Hisaaki Takao,Toshihiko Tani,Tatsuhiko Nonoyama, Kazumasa Takatori,Takahiko Homma,Toshiatsu Nagaya&Masaya Nakamura.Lead-free piezoceramics.Nature,2004,432(4):84-87)等通过掺杂、织构化对KNN陶瓷改性得到了d33高 达416pC/N的压电陶瓷,其压电性能接近于PZT,推进了压电陶瓷的无铅化进程。而压电厚 膜的研究则大多数集中在PZT基材料上,无铅压电厚膜的报导还较少,无铅压电织构厚膜的 报导更是鲜为少见。
厚膜兼有块体和薄膜材料的许多优点。一方面,其厚度相比较块体来说大大减小,降低 了其在电路中的驱动电压,可使其工作在低电压高频率,这为在集成电路中使用提供了条件; 另一方面,其拥有可与块体材料相媲美的电气性能和抗疲劳性能。因此,厚膜材料和厚膜器 件一直受到材料科学工作者的关注。目前,研究较多的PZT和BST等厚膜材料已经大量应用 于各种压电、铁电、热释电器件、微波器件以及射频微电子机械系统等。制备成厚膜形态可 降低材料在电路中的驱动电压,有利于其在集成电路中的使用,而且相比于陶瓷来说,厚膜 更有利于器件的小型化。
使用流延法可以制备出织构化的陶瓷,提高材料的压电性能。但是目前关于使用流延法 制备BT和KNN无铅压电厚膜织构化,以提高其性能的报道仍然鲜为少见。
发明内容
本发明提供一种简单可行的制备BT和KNN无铅压电织构厚膜的方法。制备出一种取 向生长的无铅压电织构厚膜。
本发明主要通过以下步骤来制备无铅压电织构厚膜:
(1)选择基料,基料为BT(BaTiO3)粉体或KNN(铌酸钾钠)粉体。
(2)选取模板,模板为BT片状粉体或NN(NaNO3)片状粉体。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于同济大学,未经同济大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910046632.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。