[发明专利]多试验样本CT扫描方法无效

专利信息
申请号: 200910045758.6 申请日: 2009-02-05
公开(公告)号: CN101482524A 公开(公告)日: 2009-07-15
发明(设计)人: 赵俊;俞培春;奚岩 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 上海交达专利事务所 代理人: 王锡麟;王桂忠
地址: 200240*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 试验 样本 ct 扫描 方法
【权利要求书】:

1.一种多试验样本CT扫描方法,其特征在于包括以下步骤:

第一步,将试验样本按照试验分别固定在各个固定装置中;

第二步,将这些有试验样本的固定装置放置在试验平台上;

第三步,用CT扫描试验样本获取重建所需的投影数据;

第四步,用重建算法将断层图像重建出来;

第五步,将重建后的断层图像显示出来。

2.根据权利要求1所述的多试验样本CT扫描方法,其特征是,所述的将试验样本按照试验分别固定在各个固定装置中,是指将待进行CT扫描的样本分别固定在试验板或支架上,使样本的待扫描平面呈水平状。

3.根据权利要求1所述的多试验样本CT扫描方法,其特征是,所述的将这些有试验样本的固定装置放置在试验平台上,是指根据试验样本的数量和计算机断层成像的需要,把这些样本集中放置在试验台上,使所有样本的待扫描平面在同一个水平面上,满足多样本同时进行CT扫描成像的空间位置要求。

4.根据权利要求1所述的多试验样本CT扫描方法,其特征是,所述的用CT扫描试验样本获取重建所需的投影数据,是指通过固定X射线源,试验台进行一系列旋转、平移来实现,或者通过固定试验台,将X射线源沿着以试验台为圆心的圆进行旋转、平移来实现,每当试验台与X射线源相对旋转一定角度后,再进行相对平移,通过采集穿过样本的X射线来获得一个角度下所有的投影数据,如此反复,获得重建所需的投影数据。

5.根据权利要求1所述的多试验样本CT扫描方法,其特征是,所述的用重建算法将断层图像重建出来,是指在获得充足的投影数据后,将投影数据转换成断层图像,重建算法用经典的平行束滤波反投影算法。

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