[发明专利]多晶硅酸蚀化学绒面制备添加剂无效
| 申请号: | 200910032771.8 | 申请日: | 2009-06-08 |
| 公开(公告)号: | CN101586239A | 公开(公告)日: | 2009-11-25 |
| 发明(设计)人: | 马跃;杨雷;王玉亭;戴燕华;张薛丹 | 申请(专利权)人: | 江苏林洋新能源有限公司;江苏林洋太阳能电池及应用工程技术研究中心有限公司 |
| 主分类号: | C23F1/24 | 分类号: | C23F1/24 |
| 代理公司: | 南通市永通专利事务所 | 代理人: | 葛 雷 |
| 地址: | 226200江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 多晶 硅酸 化学 制备 添加剂 | ||
技术领域:
本发明涉及一种多晶硅酸蚀化学绒面制备用添加剂。
背景技术:
在多晶硅酸性式制绒中,酸性溶液的主要组份为氢氟酸,硝酸和水。 在规模化生产中,同一配比的酸性腐蚀液、绒面制备易出现:孔蚀、针 孔、色差片。在初配的溶液中,有时出现腐蚀量不够的现象。这一系列 的问题都严重影响着多晶硅电池的转换效率和成品率。现在的问题是, 同一配比的酸性溶液,在寿命期内,多晶硅的绒面连续、均匀、致密、 无针孔,孔蚀。硅片表面的颜色均匀一致,无明显色差。
内容:初配酸性腐蚀液,硅片绒面易出现针孔、孔蚀和减薄量不够 的现象,如果酸性腐蚀液处于富硝酸溶液中,绒面为浅蚀坑,硅片表面 光的反射率高,电池的转换效率偏低;在富氢氟酸溶液中,制备绒面时, 在晶粒间界处,易出现孔蚀和针孔,虽然硅片表面可见光范围反射率平 均为12%,电池的效率也偏低,主要原因是在针孔处沾污严重,引起开 路电压和短路电流的降低。
Si+4HNO3=SiO2+4NO2+2H2O (1)
由于硝酸与硅的反应生成二氧化硅是非常缓慢的。在固定配比条件 下,必然富氢氟酸溶液,反应受氧化反应限制,腐蚀各向异性(这是我 们不希望看到的结果)。因为氧化反应对晶体的掺杂,晶向和缺陷结构 很敏感。经验表明,晶粒间界的氧化速率与晶粒相比低25%,这就充分 说明,富氢氟酸溶液,容易在晶粒间界出现针孔、孔蚀的根本原因。
在富硝酸溶液中,给出各向同性腐蚀,于是腐蚀速率的控制便是硅 氧化物的溶解过程,富硝酸溶液的腐蚀动力学表明,扩散控制而非反应 速率控制,富硝酸溶液去除损伤层更好。
2No2+H2O=HNO2+HNO3(2)
Si+4HNO2=SiO2+4NO+2H2O (3)
经验表明:亚硝酸跟硅的反应比硝酸与硅的反应快得多,问题是, 在溶液中尽快生成较多的亚硝酸。
HNO3+2NO2+H2O=3HNO2(4)
在反应3和4之间形成一个良性循环。
在富氢氟酸溶液中,在晶粒间界易出现针孔和孔蚀现象。氢氟酸的 作用是溶解二氧化硅,其反应式如下:
SiO2+6HF=H2[SiF6]+2H2O
这个反应速率太快,不便于控制。
发明内容:
本发明的目的在于提供一种使多晶硅片绒面腐蚀的颜色均匀一致, 减薄量符合要求,形成无针孔、无网纹、无明显色差的多晶硅绒面,在 多晶硅制绒面后表面上制备氮化硅薄膜,用肉眼观察无明显的晶粒间界 的多晶硅酸蚀化学绒面制备添加剂。
本发明的技术解决方案是:
一种多晶硅酸蚀化学绒面制备添加剂,包括酸性腐蚀液,其特征是: 在酸性腐蚀液中加有下列体积百分比的成分:
(1)含氮无机盐:0.1~2%
(2)硅基表面活性剂:0.1~0.5%
所述体积百分比是相对于酸性腐蚀液的体积而言。
所述酸性腐蚀液是由氢氟酸、硝酸、水组成的腐蚀液。
酸性腐蚀液中氢氟酸、硝酸、水三者的体积比为3∶6∶4。
所述添加剂,其溶液温度为8~20℃。
含氮无机盐是硝酸盐、亚硝酸盐或铵盐;硅基表面活性剂为聚甲基 硅氧烷及其衍生物的一种或几种。
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