[发明专利]利用X射线荧光光谱分析氯化物型油田水中稀散元素含量的方法有效
申请号: | 200910022312.1 | 申请日: | 2009-04-16 |
公开(公告)号: | CN101545875A | 公开(公告)日: | 2009-09-30 |
发明(设计)人: | 王小欢;董亚萍;孟庆芬;冯海涛;徐斌;李武 | 申请(专利权)人: | 中国科学院青海盐湖研究所 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 兰州中科华西专利代理有限公司 | 代理人: | 张英荷 |
地址: | 810008*** | 国省代码: | 青海;63 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 射线 荧光 光谱分析 氯化物 油田 水中 元素 含量 方法 | ||
1.一种利用X射线荧光光谱分析氯化物型油田水中稀散元素组分含量的分析方法,包括以下步骤:
(1)利用基准NaCl、基准KCl、优级纯MgCl2、优级纯CaCl2、光谱纯SrCl2、分析纯CsCl、分析纯RbCl七种试剂按以下含量范围配制人工油田水标样:单位:ω
Na:0.10×10-2~8.00×10-2 Ca:0.10×10-2~11.00×10-2
K:0.10×10-2~3.20×10-2 Mg:0.10×10-2~2.00×10-2
Sr:1×10-5~20000×10-6 Cs:1×10-5~600×10-6
Rb:1×10-5~600×10-6 Cl:0.1×10-2~23.00×10-2
(2)设置各元素的测试条件,Sr、Rb、Cs的测量电压为20~30kV,电流60~120mA,测量晶体为LiF200或LiF220;Na、Ca、Mg、Cl、K测量电压为30~90kV,电流60~120mA,测量晶体为LiF220、LiF200或PX1;各元素的脉冲高度分析器设置在14~80V;
(3)线性回归曲线或各元素含量与计数率线性关系的确定:在氦气系统下对人工油田水标样进行测试,并对标样进行线性回归,使各元素含量与探测器所测量的计数率成线性关系;
(4)样品测定:在上述测量条件下,对实际样品进行分析,并根据测量的计数率通过线性回归曲线或各元素含量与计数率的线性关系,得到实际样品中各稀散元素的含量。
2.如权利要求1所述利用X射线荧光光谱分析氯化物型油田水中稀散元素组分含量的分析方法,其特征在于:所述各稀散元素含量与计数率的线性关系如下:
Cs:C=0.000135873R
Sr:C=0.00371+3.72328351R
Rb:C=0.00011+1.077731849R
C——各元素含量
R——被测元素的计数率即分析线谱峰测量强度。
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