[发明专利]一种微电子用材料蠕变性能测试装置无效
| 申请号: | 200910021754.4 | 申请日: | 2009-03-30 |
| 公开(公告)号: | CN101504346A | 公开(公告)日: | 2009-08-12 |
| 发明(设计)人: | 许天旱 | 申请(专利权)人: | 西安石油大学 |
| 主分类号: | G01N3/14 | 分类号: | G01N3/14 |
| 代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 | 代理人: | 刘国智 |
| 地址: | 710065陕西省*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 微电子 用材 料蠕变 性能 测试 装置 | ||
1.一种微电子用材料蠕变性能测试装置,其特征在于,包括有一上支架(2),上支架(2)上部设置有滑轮(1),上支架(2)下部用于设置试样(12),试样(12)下连接有载荷箱(11),绳(6)的一端连接载荷箱(11),绳(6)的另一端通过滑轮(1)连接在电池(8)上,电池(8)装在闹钟(10)的电池盒(7)内,闹钟(10)固定在下支架(9)上,闹钟(10)和下支架(9)的位置偏离于载荷箱(11)下落点的位置。
2.根据权利要求1所述的一种微电子用材料蠕变性能测试装置,其特征在于,所述的绳(6)在测试时不受力,处于松弛状态。
3.根据权利要求1所述的一种微电子用材料蠕变性能测试装置,其特征在于,所述的试样(12)由三部分组成,包括上基片(3)、试验钎料(4)和下基片(5),钎料(4)将上基片(3)和下基片(5)连接在一起,上基片(3)和上支架(2)连接,下基片(5)和载荷箱(11)连接。
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