[发明专利]一种储罐内专用参比电极有效
申请号: | 200910019296.0 | 申请日: | 2009-10-16 |
公开(公告)号: | CN102041511A | 公开(公告)日: | 2011-05-04 |
发明(设计)人: | 李言涛 | 申请(专利权)人: | 中国科学院海洋研究所 |
主分类号: | C23F13/22 | 分类号: | C23F13/22;G01N27/30 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 许宗富;周秀梅 |
地址: | 266071*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 储罐内 专用 参比电极 | ||
技术领域
本发明涉及大型储罐的监测设备,具体地说是一种储罐内专用参比电极。
背景技术
大型储罐是一种贮存油类产品、化工原料等的容器。原油储罐,原油中的水经过一定时间的沉淀之后,对于罐底,使罐的底部大量含水(高达98%),且偏酸性。因此一般是上层油层下层水层。腐蚀集中在罐底,正说明该腐蚀是酸性水系统的电化学腐蚀。在电化学腐蚀中,要考虑的是电极电位。
储罐的底部腐蚀是一个大问题,而且大部分是下层的点蚀现象非常严重,很容易造成大的安全事故。罐底通常采用牺牲阳极进行保护,为了监测牺牲阳极对罐底保护情况,需要对保护电位进行实时监测。
通常实时的电位观测需要在测量处设置一个参比电极。在测量储罐内底板保护电位时要求参比电极在储罐下层的水层中处于正常的测试状态,若参比电极工作面沾上油迹则对测量结果影响很大,而要使电极进入到油罐底部而不受到油的干扰则比较困难。
发明内容
为了解决现有参比电极对测量结果造成影响的问题,本发明的目的在于提供一种储罐内专用参比电极,该参比电极的端部不会被原油粘附,保证了测量结果的准确性。
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的:
储罐内专用参比电极:包括测量装置、密封装置及控制绳索,所述测量装置1的一侧密封连接有信号传输电缆2,另一侧安装有带有滑轮11的支架3,控制绳索4的一端由支架3上的滑轮11穿过、连接有位于测量装置1一侧端部的可开启并可复位密封的密封装置5,控制绳索4的另一端为自由端。
所述测量装置1分为三层,外层为包覆层,中间层为石英砂和环氧树脂,内层为高纯锌参比电极。所述包覆层为聚四氟乙烯、硅树脂或超高分子量聚乙烯。所述密封装置5包括密封盖6及磁铁7,密封盖6的一端铰接于测量装置1,另一端为自由端,所述密封盖6的自由端上设有磁铁7,控制绳索4的一端与密封盖6的自由端相连接;在测量装置1安装密封盖6的端部设有与密封盖6上的磁铁相对应的磁铁8。所述密封装置5包括密封盖6及弹性部件9,密封盖6的一端铰接于测量装置1,另一端为自由端,所述密封盖6的自由端与弹性部件9的一端相连接,弹性部件9的另一端固定在测量装置1上;控制绳索4的一端与密封盖6的自由端相连。所述密封装5置包括密封盖6、弹性部件9及磁铁7,密封盖6的一端铰接于测量装置1,另一端为自由端,所述密封盖6的自由端上设有磁铁7且该自由端还与弹性部件9的一端相连接,弹性部件9的另一端固定在测量装置1上;在测量装置1安装密封盖1的端部设有与密封盖6上的磁铁7相对应的磁铁8,控制绳索4的一端与密封盖6的自由端相连。所述弹性部件9可为橡皮筋或弹簧。所述滑轮11安装于支架3的中央位置,该支架3为锥形。所述测量装置1外表面上安装有导向环10,控制绳索4的另一端由导向环10穿过、通过导向环10导向。
本发明的优点与积极效果为:
1.测试准确,可重复使用。本发明用控制绳索控制密封盖的开关,在进入下层时打开密封盖充当参比电极,在测量时不会在储油罐里残留任何不必要的物质,保证了测试结果的准确性;由于进入下层时才打开密封盖,因此参比电极端部不会被原油粘附,即使有少量粘附,也可以擦拭干净后继续使用。
2.本发明可通过信号传输电缆自由控制仪器的下降速度。
3.本发明的支架为锥形,便于穿过粘稠介质到达测量位置,也便于测量电位时轻易打开密封装置。
4.结构简单,使用方便。采用本发明可以快速灵活的测量储罐内壁的电位。
5.应用范围广。本发明参比电极不仅适用作为测量储罐内壁电位的参比电极,还可以作为测量大型内存有两种不互溶的溶液时金属容器电位的参比电极。
6.本发明参比电极利用自重穿过储罐上层介质进入下层水层,便于用绳索控制密封装置的开关,使测量装置的表面接触下层水位测量出罐内壁钢板的保护电位。本发明参比电极因为能自由控制仪器的下降速度以及密封口的开合,因此避免了储罐中介质对测量参比电极工作面的污染,保证了测试结果的准确性,并可反复使用,测量简便洁净。
附图说明
图1为本发明实施例1的整体结构示意图;
图2为本发明实施例2的整体结构示意图;
图3为本发明实施例3的整体结构示意图;
图4为本发明测量装置的剖面图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步详述。
实施例1
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院海洋研究所,未经中国科学院海洋研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910019296.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种制备多晶硅薄膜的方法
- 下一篇:一种去除多晶硅碳头料中碳的方法