[发明专利]光学拾取头装置无效

专利信息
申请号: 200910007725.2 申请日: 2007-02-27
公开(公告)号: CN101499294A 公开(公告)日: 2009-08-05
发明(设计)人: 广野方敏 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G11B7/135 分类号: G11B7/135;G11B7/09
代理公司: 上海市华诚律师事务所 代理人: 徐申民;张惠萍
地址: 日本国东京*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光学 拾取 装置
【说明书】:

本申请是下述专利申请的分案申请:

申请号:200710084486.1

申请日:2007年2月27日

发明名称:光学拾取头装置,以及播放光存储介质的方法和设备

相关申请的交互引用

本专利申请基于并要求在先的2006-51284号日本专利申请的优先权,该申请于2006年2月27日提交;其完整内容通过引用结合在此。

技术领域

本发明涉及用来减少层间串扰的技术,该层间串扰产生自单面多层光盘。

背景技术

设置有多个信息记录层的单面多层光盘已被开发以实现光盘的大容量。在信息记录层中,将用来记录或播放信息的层认为是目标层,而将其他层认为是非目标层。通过将光束会聚在目标层上并接收来自目标层的反射光束。用于单面多层光盘的光学拾取头装置在信息记录层中的目标层记录信息以及从目标层播放信息,该光束从作为光源的半导体激光器输出。光束传输穿过偏振光束分光器,由反射镜偏转使光束在法线方向入射在光盘上,传输穿过偏振元件,并且由物镜会聚在目标层上。该光束从目标层反射,并且该反射光束再次传输穿过偏振元件,因此反射光束的偏振转变为大致垂直于入射光束的偏振方向线偏振。该光束然后在分光器反射,并且穿过检测透镜会聚在光检测单元的光接收元件上。

对单面多层光盘,将数据记录在信息记录层和将数据从信息记录层播放可以通过光盘的一面实现,因为除了离激光束入射的光盘表面的最远的信息记录层以外,其它信息记录层是半透明的。因此,当反射光束照射在光检测单元的光接收元件上时,来自非目标层的反射光束大部分是散焦的,其引起层间串扰。因为来自非目标层的反射光束引起杂散光束,光检测单元的检测信号质量降低。

为减少层间串扰,例如,JP-A2004-281026(日本专利公开公报)披露了一项技术,其通过从检测用来产生推挽信号的光束面积中排除反射光束光轴附近的面积来从推挽信号中除去杂散光束。

然而,因为传统技术只是用来限制从非目标层反射的反射光束的光轴附近的面积,使该面积不被用于推挽信号,产生推挽信号所需的一级衍射束不能完全去除。换句话说,因为从两个相邻信息记录层反射的反射光束中的一级衍射光束在中心部分附近重合,难以仅通过去除反射光束的光轴附近面积的光束来完全去除推挽信号中的杂散光并去除层间串扰。

发明内容

一种光学拾取头装置,其对应于本发明的一个方面,用于包括多个信息记录层的光存储介质,该光学拾取头装置包括:输出光束的光源;将该光束会聚至第一信息记录层的会聚单元;检测从该光存储介质反射的反射光束的光检测单元,包括接收用于聚焦误差信号的反射光束的第一光接收单元以及接收1级衍射光束的第二光接收单元;以及限制元件,衍射通过远离所述光检测单元的特定区域的光束,所述特定区域包括:从非目标层反射的0级衍射光束通过的光轴附近的区域,以及用于推挽信号的反射的1级衍射光束通过的和从所述非目标层反射的1级衍射光束通过的两个区域的中心区域。

附图说明

图1是根据本发明的第一实施例的光存储介质播放设备中的光学系统的原理图;

图2是用来说明根据第一实施例的单面双层光盘中光束会聚在信息记录层上的示意图;

图3是根据第一实施例说明光检测单元上的光束照射状态的示意图,在该状态光强限制在包括从目标层反射的光束的光轴的预定面积中;

图4是根据第一实施例说明光检测单元上的光束照射状态的示意图,在该状态光强限制在包括从非目标层反射的光束的光轴的预定面积中;

图5是根据第一实施例说明投射在光检测单元上的反射光束的分布示意图;

图6是根据本发明第二实施例的光存储介质播放设备中的光学系统的示意图;

图7是根据第二实施例说明反射的零级衍射光束的反射的示意图;

图8是根据第二实施例说明反射的一级衍射光束的反射的示意图;

图9是根据第二实施例说明如何确定推挽面积的中心部分的示意图;

图10是根据第二实施例说明如何确定两块面积的各中心部分的示意图,其中反射的一级衍射光束穿过该面积;

图11是根据第二实施例的偏振元件的开口分割的示意图;

图12是根据第二实施例的光接收单元的结构和光接收单元上反射光束的分布的示意图;

图13是根据本发明的第三实施例的偏振元件的开口分割的示意图;

图14是根据第三实施例的光接收单元的结构和光接收单元上反射光束的分布的示意图;

图15是根据本发明的第四实施例的偏振元件的开口分割的示意图;以及

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