[发明专利]磁盘阵列的测试方法及测试系统无效

专利信息
申请号: 200910006065.6 申请日: 2009-01-22
公开(公告)号: CN101788943A 公开(公告)日: 2010-07-28
发明(设计)人: 陈重江 申请(专利权)人: 英业达股份有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/26
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 陈红
地址: 中国台湾台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 磁盘阵列 测试 方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明是有关于一种磁盘阵列的测试方法及测试系统,且特别是有关于一种可提升测试效率的磁盘阵列测试方法及测试系统。

背景技术

一般而言,测试人员在进行磁盘阵列的测试时,首先必须要将多颗实体硬盘机连接于磁盘阵列中,并利用磁盘阵列配置工具(RAID confugirationtools),例如HP品牌的ORCA及ACU模块,将磁盘阵列创建并设定完成。接下来,必须实际进行硬盘机的插拔动作,以进行磁盘阵列的各项测试项目。例如将两颗实体硬盘机创建的RAID1形式的逻辑磁盘,进行磁盘阵列错误处理(RAID error handling)测试。在该测试项目中,是将其中一棵实体硬盘机拔除,并检测磁盘阵列拔除硬盘机后的状态,以及组态只读存储器(Option ROM)应该进行的动作。测试人员必须实际进行硬盘机的排线拔除,甚至是将硬盘机真正自硬盘机安装插槽取下。另外,每一项测试结果必须通过输出模块来显示测试结果,必须等候输出模块处理的时间。每一项测试结束后,需要人工在测试机台旁观察测试结果,方能进行下一步测试。

当欲执行多个测试项目时,测试人员必须反复进行硬盘机的插拔动作,并且需随时在测试机台旁等候测试结果,无法有效快速地进行测试,将会耗费许多人力及时间成本。再者,进行磁盘阵列测试时,磁盘阵列必须连接许多颗实体硬盘机,会耗费许多硬件成本。

发明内容

本发明的目的就是在提供一种磁盘阵列的测试方法及测试系统,在磁盘阵列的测试过程中不需要插拔实体磁盘机,可提升测试的效率以及便利性。

根据本发明的一方面,提出一种磁盘阵列的测试方法,首先以一第一模式读取多个磁盘阵列配置数据,用以模拟依照一第一方式连接多个实体磁盘机。接着,根据该些磁盘阵列配置数据产生一总体配置数据。其次,以一第二模式读取该些磁盘阵列配置数据,用以模拟依照一第二方式连接该些实体磁盘机。再来,对应第二模式更新总体配置数据。然后,记录总体配置数据。

根据本发明的另一方面,提出一种磁盘阵列的测试系统,包括多个二进制文件、一读取单元、一组态只读存储器以及一记录单元。每一个二进制文件包含有一磁盘阵列配置数据。读取单元用以根据多个模式读取该些二进制文件。组态只读存储器用以根据该些二进制文件中的该些磁盘阵列配置数据产生一总体配置数据,并且对应该些模式更新总体配置数据。记录单元用以记录总体配置数据。

根据本发明的再一方面,提出一种磁盘阵列的测试系统,包括一内存、一读取单元、一组态只读存储器以及一记录单元。内存存储有多个磁盘阵列配置数据。读取单元用以根据多个模式从内存读取该些磁盘阵列配置数据。组态只读存储器用以根据读取的该些磁盘阵列配置数据产生一总体配置数据,并对应该些模式更新总体配置数据。记录单元用以记录总体配置数据。

本发明利用读取多个磁盘阵列配置数据的方式模拟连接于多个实体磁盘机,仅需改变读取该些磁盘阵列配置数据的模式,即可进行各项磁盘阵列的测试,不需要对于实体磁盘机进行插拔的动作,提升了测试的便利性以及效率。此外还可利用记录总体配置数据的方式直接了解测试结果,节省等待输出模块的时间。

附图说明

为使本发明的上述和其它目的、特征、优点与实施例能更明显易懂,所附附图的说明如下:

图1示出了依照本发明一较佳实施例的磁盘阵列的测试系统的功能方块图;

图2示出了依照本发明较佳实施例的磁盘阵列的测试方法的流程图;

图3示出了依照本发明另一较佳实施例的测试系统的功能方块图。

【主要组件符号说明】

100:测试系统        100’:测试系统

110:组态只读存储器        130:读取单元

150:二进制文件            170:记录单元

190:内存                  D:磁盘阵列配置数据

具体实施方式

本发明较佳实施例的磁盘阵列(Redundant Array of Independent Disks,RAID)的测试方法及测试系统中,组态只读存储器(Option ROM,OPROM)利用连接读取多个磁盘阵列配置数据的方式,模拟连接至多个实体磁盘机的状态。进行磁盘阵列测试时,仅需改变读取该些磁盘阵列数据的模式,即可对应模拟该些实体磁盘机的连接方式。如此可省略插拔实体磁盘机的动作,提升测试的便利性及效率。

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