[发明专利]减少磁共振温度测量误差的方法

说明书

技术领域

本发明涉及磁共振成像(MRI)监控的高强度聚焦超声(HIFU)领 域，特别是涉及一种在MRI监控的HIFU设备中减少温度测量误差的方 法。

背景技术

磁共振(MR)质子共振频率(PRF，Proton Resonance Frequency)测 温法在MRI监控的HIFU设备中可用来监视HIFU加热部位温度的变化， 其原理是利用水中质子的共振频率随温度的变化而发生偏移的现象。PRF 测温法要求生成一幅加热之前的基准图像(MR相位图)，也称为参考像， 该参考像提供参考相位信息，用来与在加热过程中或加热之后获得的相 位图(也称为加热像)相减，从而确定加热区域温度升高的确切值。

但是，在实际加热过程中，采集一幅参考像之后，超声换能器(即 治疗头)的位置可能会发生变化，超声换能器移动所导致的磁化率变化 引起超声换能器焦点区域的静磁场发生变化，使得加热像与参考像相减 产生的额外相位差，从而会引起温度测量误差。

目前常用的减少温度误差的方案主要有两种。其中一种方案可称为 单参考像方法，该方法在参考像采集之后，限制超声换能器的运动范围， 从而将温度误差限制在一个可接受的范围之内。但是，由于一幅参考像 的空间使用范围很小，而在HIFU治疗过程中超声换能器会在较大空间范 围内移动，为了测量超声换能器各个焦点位置的温度，需要针对不同位 置频繁地采集参考像，这就增加了温度测量的复杂程度，并且增加了整 个治疗的时间。

另一种减少温度误差的方案可称为自参考法，即不采集参考像，利 用加热像本身，通过拟合外插的方法得到未加热情况下的参考相位图。 这种方法所监控的温度变化局限于HIFU焦点附近，在实际应用中很难监 控焦点以外的温度变化。另外拟合外插的精度与相位图的复杂程度与加 热区域的大小相关联，应用中较难得到稳定一致且准确的结果。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种减少磁共振温度测量误差的 方法，用来得到加热区域准确的温度变化。

本发明提供了一种减少磁共振温度测量误差的方法，用于磁共振成 像监控的HIFU，该方法包括：

在HIFU设备对加热区域进行加热之前，获取一幅磁共振(MR)相 位图，作为参考像；在HIFU设备加热中或加热之后，获取另一幅MR相 位图，作为加热像；

根据所述加热像和参考像计算加热区域的温度变化；

该方法还包括：根据所述HIFU设备的超声换能器位置变化所引起的 磁场变化，对所述温度变化进行补偿。

优选地，按照下面的公式对所述温度变化进行补偿，

ΔT=ΔTconv-γ·[ΔBt(r2)-ΔBt(r1)]·TEγ·B0·α·TE]]>