[发明专利]质谱仪有效
| 申请号: | 200910004091.5 | 申请日: | 2004-03-09 |
| 公开(公告)号: | CN101504907A | 公开(公告)日: | 2009-08-12 |
| 发明(设计)人: | R·H·梅勒克;K·J·梅耶;S·斯朵夫;S·R·霍宁 | 申请(专利权)人: | 萨默费尼根有限公司 |
| 主分类号: | H01J49/38 | 分类号: | H01J49/38;H01J49/42 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 黄嵩泉 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 质谱仪 | ||
1.一种傅里叶变换离子回旋共振质谱仪,包括:
离子源装置,产生待分析的离子,所述离子源被配置成保持在大气压;
离子存储装置,配置来容纳和捕集所产生的离子;
具有差速泵抽的离子透镜,配置于所述离子源和所述离子存储装置之间,用 于当离子从所述源通到所述存储装置中时,聚焦和/或过滤这些离子;
傅里叶变换离子回旋共振测量小室,所述傅里叶变换离子回旋共振测量小室 具有诸室壁,在诸室壁内限定了用于容纳来自所述离子存储装置的离子的小室容 积;
离子导引装置,配置于所述离子存储装置和所述傅里叶变换离子回旋共振测 量小室之间,用于把来自所述离子存储装置的离子导引和聚焦到所述傅里叶变换离 子回旋共振测量小室中,用于在其内作质谱分析;以及
磁体组件,包括一超导磁体,所述超导磁体具有一个用于容纳傅里叶变换离 子回旋共振测量小室的室温磁体腔,所述磁体腔具有纵轴;以及
其中,所述傅里叶变换离子回旋共振测量小室沿着所述磁体腔的纵轴方向延 伸并且基本与其共轴,所述超导磁体被配置成产生具有场线的磁场,所述场线在与 所述磁体腔的纵轴基本平行的方向上延伸,且其中,磁体腔的截面积对小室容积的 截面积之比率R小于4.25,各个截面积都被定义在垂直于所述纵轴的平面上。
2.根据权利要求1所述的质谱仪,其特征在于,所述磁体腔和所述傅里叶变 换离子回旋共振测量小室通常各是直的圆柱体,以及所述磁体腔的直径小于 150mm。
3.根据权利要求2所述的质谱仪,其特征在于,所述磁体腔的直径大于 100mm,以及R小于2.85。
4.根据权利要求2所述的质谱仪,其特征在于,所述磁体腔的直径小于 100mm,以及限定所述小室容积的室壁的内直径至少是48.6mm。
5.根据权利要求1所述的质谱仪,其特征在于,所述磁体组件还包括配置来 安装所述超导磁体的外壳,所述外壳限定小于磁体腔的外壳腔,所述外壳腔适于安 装所述傅里叶变换离子回旋共振测量小室。
6.根据权利要求5所述的质谱仪,其特征在于,所述外壳起着致冷器的作用, 用来把电磁体的线圈维持在低于使它们处于超导状态的温度。
7.根据权利要求1所述的质谱仪,还包括安装所述傅里叶变换离子回旋共振 测量小室的可抽空的室,所述可抽空的室被配置在磁体腔内使用。
8.根据权利要求1所述的质谱仪,其特征在于,所述傅里叶变换离子回旋共 振测量小室的轴向中心被设置于在轴方向上远离所述超导磁体的几何中心。
9.根据权利要求8所述的质谱仪,其特征在于,所述超导磁体具有非对称的 绕组,以致所述磁体腔纵轴方向上的磁中心与该方向上的几何中心不同。
10.根据权利要求1所述的质谱仪,其特征在于,所述超导磁体被配置来产 生磁场,所述磁场在磁体腔纵轴方向的至少70mm的长度上基本上是均匀的,其 中小室的长度在那个相同方向上同样是至少70mm。
11.根据权利要求1所述的质谱仪,其特征在于,所述傅里叶变换离子回旋 共振测量小室具有限定一开口的前表面,通过所述开口接收来自上游方向的离子, 以及所述傅里叶变换离子回旋共振测量小室被做成悬臂伸出,即从所述上游方向上 的一个位置被支撑。
12.根据权利要求1所述的质谱仪,其特征在于,所述傅里叶变换离子回旋 共振测量小室具有限定一开口的前表面,通过所述开口接收来自上游方向的离子; 在所述前表面对面的后表面,在跨越该小室容积产生电场的多个电极;以及探测装 置,所述后表面包括至少一个适于与至少一个相应的电源供给接触的外部电接触, 和/或探测器信号处理装置。
13.根据权利要求11或12所述的质谱仪,其特征在于,所述傅里叶变换离 子回旋共振测量小室相对于磁体组件是可移动的。
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