[发明专利]新一代周边连接接口的总线测试方法有效

专利信息
申请号: 200910003438.4 申请日: 2009-01-05
公开(公告)号: CN101770416A 公开(公告)日: 2010-07-07
发明(设计)人: 陈镇;陈玄同 申请(专利权)人: 英业达集团(天津)电子技术有限公司;英业达股份有限公司
主分类号: G06F11/267 分类号: G06F11/267;G06F11/36
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 梁挥;祁建国
地址: 300193*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 新一代 周边 连接 接口 总线 测试 方法
【说明书】:

技术领域

一种总线测试方法,特别有关于一种可以实时监视新一代周边连接接口(PCIE)的总线测试过程的方法。 

背景技术

新一代周边连接接口(Peripheral Component Interconnect Express,PCIE)总线是主机板重要的系统总线其质量优劣决定着系统与芯片组(chipset)之间的稳定性和高效性。特别是针对高级服务器产品,对总线的功能和性能以及长时间压力负载等要求很高。 

以往的测试方案大致可以归纳为下面两种模式: 

1.内存读写模式,这种方法就是使用软件程序驱使新一代周边连接周边设备进行数据传输,即在程序中对某一个新一代周边连接接口的设备所映像的一段物理内存做读写操作。 

2.直接存取内存(Direct Memory Access,DMA)读写模式,这种方法较第一种是更接近底层的操作,其主要使用的方法就是在对应的新一代周边连接接口插槽上安装被测设备,然后再通过软件配置和驱动设备进行DMA数据搬运的测试。 

上面两种测试方法存在一定的效果,尤其是在功能测试方面,但是随着对测试精准度以及数据流程可操控性要求不断提高,上面两种方法的不足就暴露出来,具体表现如下: 

1.测试的数据流程对于测试目的来说过于繁琐。 

2.无法准确地在一定时间内保持持续的数据传输量。 

3.测试过程中会消耗一定的系统资源。 

4.测试目标不能明确体现。 

因此,现有的新一代周边连接接口测试方案对服务器略显不足,过于偏重新一代周边连接接口插槽和新一代周边连接接口装置功能(PCI Device Function),这对于新一代周边连接接口总线效能的监控和实时错误捕捉,并无实际的帮助。

发明内容

鉴于以上的问题,本发明的主要目的在于提供一种可以实时监视新一代周边连接接口的总线测试过程的方法,用来监视新一代周边连接接口的总线的压力测试。 

为达上述目的,本发明所公开的方法包括以下步骤:设置周边设备,将其电性连结于待测主机的新一代周边连接接口总线;初始化待测主机,并加载测试程序;执行测试程序,使得待测主机通过新一代周边连接接口总线调用可靠性驱动程序模块用来驱动周边设备,并且发送测试信号至周边设备;接收由周边设备所传回的回复信息;监控界面接收由周边设备所传回的回复信息;当回复信息为错误信息时,则调用相应的错误处理程序;调整测试程序的测试参数,直至完成所有的测试参数为止。 

本发明提供一种新一代周边连接接口的总线测试方法,其用来诊断新一代周边连接接口总线的运作状态。根据测试程序发送各种测试参数,从而测试新一代周边连接接口总线对各项模块的支持度。 

有关本发明的技术特征和具体实施例,参照附图详细地对最佳实施例进行如下说明。 

附图说明

图1A为本发明的架构示意图; 

图1B为新一代周边连接接口传输架构示意图; 

图2为本发明的架构示意图; 

图3可靠性驱动程序模块调用各模块的示意图。 

其中,附图标记 

110待测主机 

120周边设备 

130新一代周边连接接口总线 

131装置核心 

132核心逻辑接口 

133交换层 

134数据连接层 

135物理层 

140测试程序 

300可靠性驱动程序模块 

310新一代周边连接接口同调检测模块 

320新一代周边连接接口设置检查模块 

330新一代周边连接接口降级检测模块 

340新一代周边连接接口效能分配模块 

350错误检测模块 

360登录文件 

370监控接口 

具体实施方式

请参考图1A所示,其为本发明的架构示意图。在本发明的测试系统中包括有:待测主机110与周边设备120。在待测主机110中包括至少一个新一代周边连接接口总线130。周边设备120具有一新一代周边连接接口与测试程序140,并通过其总线电性连接于待测主机110。请参考图1B所示,其为新一代周边连接接口传输架构示意图。 

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英业达集团(天津)电子技术有限公司;英业达股份有限公司,未经英业达集团(天津)电子技术有限公司;英业达股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910003438.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top