[发明专利]接合体的形成方法和接合体有效

专利信息
申请号: 200910002785.5 申请日: 2009-01-22
公开(公告)号: CN101491962A 公开(公告)日: 2009-07-29
发明(设计)人: 佐藤充;山本隆智 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: B32B37/10 分类号: B32B37/10;B32B37/06;B32B7/04;C23C16/02;C23C16/18;B41J2/16
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 李贵亮
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 接合 形成 方法
【权利要求书】:

1.一种接合体的形成方法,其特征在于,具有如下工序:

在第1基材及第2基材上,分别用化学气相成膜法形成包含铜和有机 成分的、所述铜的含有率按原子比计为80at.%以上且不足90at.%的接合膜 的工序;

以所述接合膜相互对置的方式,在使所述第1基材和第2基材相互接 触的状态下,对所述第1基材和第2基材间赋予压缩力使所述接合膜相互 结合而得到接合体的工序,

在所述得到接合体的工序中,将所述接合膜加热,当赋予所述第1基 材和第2基材间的压缩力的大小为50MPa、赋予所述压缩力的时间为Y 分钟、将所述接合膜加热的温度为T、所述铜的含有率为X、气体常数为 R时,设定成满足1/Y≥1.43×109exp[-6.60×10-2(100-X)-82×103/RT] 的关系,所述接合膜加热的温度的单位为K,所述铜的含有率的单位为 at.%,所述气体常数的单位为J/(mol·K)。

2.根据权利要求1所述的接合体的形成方法,其中,在形成所述接 合膜的工序中,以其表面粗糙度Ra为1nm~30nm的方式形成所述接合膜, 所述表面粗糙度Ra是在JIS B0601中规定的粗糙度。

3.根据权利要求1或2所述的接合体的形成方法,其中,在得到所 述接合体的工序中,赋予所述第1基材和第2基材间的压缩力为1MPa~ 100MPa。

4.根据权利要求1所述的接合体的形成方法,其中,在得到所述接 合体的工序中,赋予所述压缩力的时间为5分钟~180分钟。

5.根据权利要求1所述的接合体的形成方法,其中,将所述接合膜 加热的温度为110℃~200℃。

6.根据权利要求1所述的接合体的形成方法,其中,在得到所述接 合体的工序中,所述压缩力的赋予在大气气氛中进行。

7.根据权利要求1所述的接合体的形成方法,其中,所述接合膜通 过使用有机金属材料作为原材料的有机金属化学气相成膜法来形成。

8.根据权利要求7所述的接合体的形成方法,其中,所述有机金属 材料为金属络合物。

9.根据权利要求7或8所述的接合体的形成方法,其中,所述有机 成分是所述有机金属材料中含有的有机物的部分残留物。

10.根据权利要求1所述的接合体的形成方法,其中,所述接合膜的 平均厚度为1nm~1000nm。

11.根据权利要求1所述的接合体的形成方法,其中,所述第1基材 和第2基材分别呈板状。

12.根据权利要求1所述的接合体的形成方法,其中,所述第1基材 和第2基材的至少形成所述接合膜的部分以硅材料、金属材料或玻璃材料 为主要材料来构成。

13.根据权利要求1所述的接合体的形成方法,其中,对所述第1基 材和第2基材的具有所述接合膜的面,事先实施用于提高与所述接合膜的 密合性的表面处理。

14.根据权利要求13所述的接合体的形成方法,其中,所述表面处 理为等离子体处理。

15.根据权利要求1所述的接合体的形成方法,其中,在所述第1基 材和第2基材与设于所述第1基材和第2基材的各所述接合膜之间,分别 插入中间层。

16.根据权利要求15所述的接合体的形成方法,其中,所述中间层 以氧化物类材料为主要材料来构成。

17.一种接合体,其特征在于,用权利要求1~16中任一项所述的接 合体的形成方法来形成。

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