[发明专利]光盘及光盘装置有效

专利信息
申请号: 200910001880.3 申请日: 2005-09-26
公开(公告)号: CN101521025A 公开(公告)日: 2009-09-02
发明(设计)人: 石田隆 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B7/007 分类号: G11B7/007;G11B7/24
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光盘 装置
【说明书】:

本申请是申请日为2005年9月26日、申请号为200580018569.X、发明名称为“光盘及光盘装置”的发明专利申请的分案申请。 

技术领域

本发明涉及具有两个信息记录层并在各层具有测试区域的光盘。另外,本发明还涉及对所述光盘进行记录的光盘装置。测试区域用于调整驱动的各种条件、例如用于学习记录条件。 

背景技术

近年来,随着光盘的高密度化、大容量化的不断发展,确保光盘的可靠性变得尤为重要。为了确保该可靠性,在对这种光盘进行记录或再生的光盘装置中,进行记录学习来求得对光盘进行的记录再生条件(参照专利文献1)。 

记录学习是指,使与照射到光盘上的激光脉冲相关的脉冲条件最佳的动作。脉冲条件是指,例如包括与记录时照射到光盘上的激光脉冲的功率值、或者激光脉冲的产生时序及长度等相关的条件。 

另外,正盛行如下的技术的开发:相对于记录再生用的光束,在位于跟前侧的位置还配置半透明的信息记录层,使其和里侧的信息记录层构成两层,使记录容量倍增。即使是这样的两层光盘也需要记录学习,分别在相对于光束位于跟前侧的层(称作L1层)和里侧的层(称作L0层),在记录数据之前进行记录条件的学习(参照专利文献2)。 

但是,在以往的记录学习中,有可能会出现无法在L0层提取最佳的记录条件的现象。具体而言,在记录学习中,还考虑以比适于记录数据的记录功率(设为Pwo1)高很多的测试记录功率来记录测试信号。因此认为:即使是在记录功率Pwo1的条件下L1层的记录的有无不会对L0层的记录品质带来影响的光盘,在上述那样的测试记录功率下,光束通过L1 层时受到强度变化等的影响,得不到L0层的记录功率的最佳值(设(设为Pwo0)。

专利文献1:特开2001-338422号公报 

专利文献2:特开2000-311346号公报 

发明内容

本发明鉴于上述问题而实现,目的在于提供一种光盘装置,在具有两层可记录的信息记录层的光盘中,任一层都可以实现精度优良的记录学习。本发明的另一个目的在于提供一种利用所述光盘进行记录学习的光盘装置。 

本发明的在光盘上形成区域的方法中,所述光盘具有基板、第一信息记录层、空白层、记录再生用的光入射面与所述第一信息记录层在同一侧的第二信息记录层、以及光透过层,在所述第一信息记录层中形成:通过压纹状的凹坑、波动凹槽、或波动凹坑预先记录有控制数据的读出专用的控制数据区域;位于所述控制数据区域的外周的第一测试区域;和位于所述第一测试区域的外周的第二测试区域,在所述第二信息记录层中至少形成:位于所述控制数据区域的半径位置的第三测试区域;和位于所述第二测试区域的半径位置的第四测试区域。 

本发明的光盘是可以记录用户数据,且具有记录再生用光的光入射面相同的第一和第二两个信息记录层的光盘。第一信息记录层至少包括:用于调整驱动的各种条件的位于内周的第一测试区域、用于调整驱动的各种条件的位于外周的第二测试区域、和用于记录用户数据的第一数据记录区域。第二信息记录层至少包括:用于调整驱动的各种条件的位于内周的第三测试区域、用于调整驱动的各种条件的位于外周的第四测试区域、和用于记录用户数据的第二数据记录区域。第一测试区域和第三测试区域被配置在相互不重合的半径位置。第二测试区域和第四测试区域被配置在相互大致相同的半径位置。由此,达到上述目的。 

这里,例如,第一信息记录层是离光入射面远的一侧的层,第二信息记录层是离光入射面近的一侧的层。第一测试区域和第三测试区域可以是用于学习内周的记录条件的区域。第二测试区域和第四测试区域可以是用于学习外周的记录条件的区域。 

还可以具有下述特征:第一信息记录层至少包括读出专用的控制数据区域,在控制数据区域的对面的位置,配置第三测试区域。 

还可以具有下述特征:控制数据区域通过压纹状的凹坑、波动凹槽、或波动凹坑,预先记录控制数据。 

还可以具有下述特征:在第一信息记录层中,从内周侧开始按照顺序至少形成有控制数据区域、第一测试区域、用于记录用户数据的第一数据记录区域、所述第二测试区域;在第二信息记录层中,从内周侧开始按照顺序至少形成有第三测试区域、用于记录用户数据的第二数据记录区域、所述第四测试区域。 

还可以具有下述特征:第一测试区域的最内周的半径R1和第三测试区域的最外周的半径R2之间的差,在第一信息记录层的轨道的偏心量和第二信息记录层的轨道的偏心量之和以上。 

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