[发明专利]故障仿真装置无效
申请号: | 200910001504.4 | 申请日: | 2009-01-05 |
公开(公告)号: | CN101770414A | 公开(公告)日: | 2010-07-07 |
发明(设计)人: | 黄伟;元哲璋;覃峻;陈玄同 | 申请(专利权)人: | 英业达集团(天津)电子技术有限公司;英业达股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/26 | 分类号: | G06F11/26;G06F3/06 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;祁建国 |
地址: | 300193*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 故障 仿真 装置 | ||
技术领域
本发明是关于一种故障仿真系统,特别是一种储存设备的故障仿真系统。
背景技术
硬盘(Hard Disk,HD)是计算机系统中最主要的储存设备,作为计算机用户的数据和信息的载体,硬盘上往往保存有大量重要数据。在一般的服务器中,由于服务器长时间不间断地运行,以及来自网络的巨大的数据访问量,服务器硬盘几乎是24小时不停地运转,承受着巨大的工作量,造成硬盘运行中发生不同程度的损坏。虽然大多数硬盘的平均无故障时间已达30000~50000小时以上,然而对于不少用户,特别是商业用户而言,一次普通的硬盘故障便足以造成灾难性的后果。
一般而言,各计算机制造厂商在计算机组装完成后,都必须检测计算机系统对硬盘存取过程中的容错能力,如压力测试与错误检测(例如硬盘掉电、数据线路短路或数据线路断路等等)。经由上述的各种容错能力的检测,可测试在错误发生时,计算机系统是否可以正常存取硬盘。然而上述容错能力的检测往往先挑出具有各种错误的硬盘,再经由人工一一进行测试,此种方式,除了特定错误的硬盘不易找寻外作业人员以手工方式将具有产生特定错误种类的硬盘,对数以千计的计算机或服务器进行检测,其作业方式不仅程序繁复,需耗费大量人力及时间,增加成本,并且所完成硬盘的错误检测也不尽可靠。
发明内容
鉴于以上的问题,本发明提供一种故障仿真装置,使用待测系统在存取储存设备的过程中,由故障仿真装置接收仿真命令而产生储存设备的对应故障,来对待测系统进行检测。
因此,本发明所公开的储存设备的故障仿真装置,设置于待测系统与储存设备之间,待测系统系存取储存设备,故障仿真装置适用于接收仿真命令而产生储存设备的对应故障。故障仿真装置包含:第一存取接口电性耦接于待测系统;第二存取接口与第一存取接口对应并电性耦接于储存设备;连接模块电性耦接于第一存取接口与第二存取接口之间,连接模块被致动时,选择性地将第一存取接口电性耦接至与之对应的第二存取接口;控制单元承接仿真命令,并依据仿真命令致动连接模块选择性地将第一存取接口与第二存取接口电性耦接或分离以产生对应故障。
其中,上述对应故障可为故障仿真装置依据接收到的仿真命令后,对连接模块进行设定以产生对应于仿真命令的故障。
另外,故障仿真装置更可包含控制主机,电性耦接于控制单元,控制单元系承接由控制主机传送过来的仿真命令。
此外,待测系统可电性耦接于控制主机并发出仿真命令给控制主机。
在此,待测系统可电性耦接于控制单元并发出仿真命令。
其中,第一存取接口包括:第一信号接头与第一电源接头,第二存取接口包括:第二信号接头与第二电源接头。连接模块被致动时,选择性地将第一信号接头与第二信号接头电性耦接或分离,或选择性地将第一电源接头与第二电源接头电性耦接或分离。
此外,连接模块将第一信号接头与第二信号接头分离时,可将第二信号接头电性连接至第一预定电位。
在此,第一预定电位可为第一接地电位、第一低电位或第一高电位。
另外,第一信号接头可包括第一差分接头,第二信号接头可包括第二差分接头,第一差分接头与第二差分接头对应,在连接模块将第一信号接头与第二信号接头分离时,可将第一差分接头与第二差分接头反向对接。
此外,第一信号接头可包括第一差分接头,第二信号接头可包括第二差分接头,第一差分接头与第二差分接头对应,在连接模块将第一信号接头与第二信号接头分离时,可将第一差分接头与第二差分接头连接成悬空状态。
其中,连接模块被致动时,可选择性将第一电源接头与第二电源接头电性耦接或分离。
在此,连接模块将第一电源接头与第二电源接头分离时,可将第二电源接头电性连接至一第二预定电位。
最后,第二预定电位可为第二接地电位、第二低电位或第二高电位。
根据本发明所提供的故障仿真装置,可依据故障仿真装置接收仿真命令,产生各种不同对应故障,并由不同故障对待测系统在存取储存设备的过程中进行容错能力检测。
有关本发明的技术特征和具体实施例,参照附图详细地对最佳实施例进行如下说明。
附图说明
图1为依据本发明的一实施例的架构示意图。
图2为依据本发明的另一实施例的架构示意图。
图3为依据本发明的次一实施例的架构示意图。
图4为依据本发明的再一实施例的架构示意图。
图5为依据本发明实施例的流程图。
图6为依据本发明实施例的信号短路检测流程图。
图7为依据本发明实施例的信号短路检测流程图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英业达集团(天津)电子技术有限公司;英业达股份有限公司,未经英业达集团(天津)电子技术有限公司;英业达股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910001504.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。