[发明专利]确定网络分析仪电磁延迟、测量高频电路阻抗的方法有效

专利信息
申请号: 200910001134.4 申请日: 2009-01-23
公开(公告)号: CN101464482A 公开(公告)日: 2009-06-24
发明(设计)人: 王国涛 申请(专利权)人: 青岛海信移动通信技术股份有限公司
主分类号: G01R27/04 分类号: G01R27/04;G01R27/06
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 代理人: 李 娟
地址: 266100山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 确定 网络分析 电磁 延迟 测量 高频 电路 阻抗 方法
【权利要求书】:

1.一种网络分析仪电磁延迟确定方法,其特征在于,包括:

对网络分析仪校准后,测量第一反射系数和第二反射系数;

所述第一反射系数为所述网络分析仪通过接入到高频电路的探针对所述高频电路进行测量获得的;所述第二反射系数为对所述高频电路串联电感后,所述网络分析仪通过探针对串联电感后的电路进行测量获得的;

根据所述电感的值,以及获得的第一反射系数和第二反射系数,确定网络分析仪的电磁延迟;

其中:

所述根据所述电感的值,以及获得的第一反射系数和第二反射系数,确定网络分析仪的电磁延迟,具体为:

根据如下第一公式计算出无损传输线ζ1和无损传输线ζ2后,根据ζ1、ζ2确定所述电磁延迟:

Γ2=Γ1e-j2βζ1+(jπfL/z0)*(1-Γ1e-j2βζ1)1+(jπfL/z0)*(1-Γ1e-j2βζ1)e-j2βζ2]]>

其中,z0是特征阻抗,π为圆周率,f为电磁波频率,L为所述电感的值;β=2π/λp,λp为传输线中电磁波波长;Γ1、Γ2分别为所述第一反射系数和第二反射系数;电磁延迟τ=-ζ2

或者

所述根据所述电感的值,以及获得的第一反射系数和第二反射系数,确定网络分析仪的电磁延迟,具体包括:

通过史密斯Simth圆图工具显示所述第一反射系数和第二反射系数;

在所述第一反射系数的基础上通过所述Simth圆图工具依次增加无损传输线ζ1、所述电感以及无损传输线ζ2后得到第三反射系数;

调整ζ1、ζ2,直至所述第三反射系数与所述第二反射系数重合;

电磁延迟τ=-ζ2

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