[发明专利]透镜筒和成像装置无效
申请号: | 200910000550.2 | 申请日: | 2009-01-15 |
公开(公告)号: | CN101487919A | 公开(公告)日: | 2009-07-22 |
发明(设计)人: | 阿部兼太郎;武井智哉 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
主分类号: | G02B7/04 | 分类号: | G02B7/04;G01B7/00;G01B11/00;H04N5/225 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 宋 鹤;南 霆 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 透镜 成像 装置 | ||
1.一种透镜筒,包括:
成像光学系统;
筒体,其被构造为容纳所述成像光学系统;
保持器,其被构造为以使透镜可沿着所述成像光学系统的光轴的方向移动的方式将包括在所述成像光学系统中的所述透镜保持在所述筒体中;
传感器单元,其被构造为输出周期性的检测信号,所述检测信号的峰值根据所述保持器的移动量而变化;
存储单元,其被构造为预先存储所述检测信号的峰值与所述保持器在所述光轴的方向上的位置之间的关系;以及
演算处理器,其被构造为基于存储在所述存储单元中的所述关系,根据在所述保持器移动时由所述传感器单元检测到的检测信号的峰值,来计算所述保持器在所述光轴的方向上的位置,
其中,所述传感器单元包括:
发光元件,其设置在所述筒体和所述保持器中的一者上,并用于位置检测;
光感应的位置检测元件,其设置在所述筒体和所述保持器中的另一者上,以与所述发光元件相对,并输出所述检测信号;以及
光学直线标尺,其布置在所述发光元件与所述位置检测元件之间,并且通过改变从所述发光元件入射在所述位置检测元件上的光来使得所述检测信号根据所述保持器的所述移动量而周期性地变化,并使得所述检测信号的所述峰值以根据所述保持器沿着所述光轴的方向的移动量而减小或增大的方式变化,其中
所述光学直线标尺包括:
缝隙板,其设置在所述发光元件附近以沿着所述光轴的方向延伸;
多个缝隙,其以与所述检测信号的周期相当的间隔形成在所述缝隙板中,以使得所述检测信号周期性地变化;
测量板,其设置在所述位置检测元件附近以沿着所述光轴的方向延伸;
透射缝隙,其形成在所述测量板中,并将已经穿过所述缝隙板的所述缝隙的光引导至所述位置检测元件;以及
滤光器,其设置在所述缝隙板与所述测量板之间以沿着所述光轴的方向延伸,并使得所述检测信号的所述峰值以根据所述保持器沿着所述光轴的方向的移动量而减小或增大的方式变化。
2.根据权利要求1所述的透镜筒,其中
所述滤光器的光透射量沿着所述滤光器的延伸方向从所述滤光器的一端朝向另一端减小或增大。
3.一种成像装置,其包括透镜筒,所述透镜筒包括:
成像光学系统;
筒体,其被构造为容纳所述成像光学系统;
保持器,其被构造为以使透镜可沿着所述成像光学系统的光轴的方向移动的方式将包括在所述成像光学系统中的所述透镜保持在所述筒体中;
传感器单元,其被构造为输出周期性的检测信号,所述检测信号的峰值根据所述保持器的移动量而变化;
存储单元,其被构造为预先存储所述检测信号的峰值与所述保持器在所述光轴的方向上的位置之间的关系;以及
演算处理器,其被构造为基于存储在所述存储单元中的所述关系,根据在所述保持器移动时由所述传感器单元检测到的检测信号的峰值,来计算所述保持器在所述光轴的方向上的位置,
其中,所述传感器单元包括:
发光元件,其设置在所述筒体和所述保持器中的一者上,并用于位置检测;
光感应的位置检测元件,其设置在所述筒体和所述保持器中的另一者上,以与所述发光元件相对,并输出所述检测信号;以及
光学直线标尺,其布置在所述发光元件与所述位置检测元件之间,并且通过改变从所述发光元件入射在所述位置检测元件上的光来使得所述检测信号根据所述保持器的所述移动量而周期性地变化,并使得所述检测信号的所述峰值以根据所述保持器沿着所述光轴的方向的移动量而减小或增大的方式变化,其中
所述光学直线标尺包括:
缝隙板,其设置在所述发光元件附近以沿着所述光轴的方向延伸;
多个缝隙,其以与所述检测信号的周期相当的间隔形成在所述缝隙板中,以使得所述检测信号周期性地变化;
测量板,其设置在所述位置检测元件附近以沿着所述光轴的方向延伸;
透射缝隙,其形成在所述测量板中,并将已经穿过所述缝隙板的所述缝隙的光引导至所述位置检测元件;以及
滤光器,其设置在所述缝隙板与所述测量板之间以沿着所述光轴的方向延伸,并使得所述检测信号的所述峰值以根据所述保持器沿着所述光轴的方向的移动量而减小或增大的方式变化。
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