[发明专利]利用光子计数进行连续波层析X射线照相组合的方法和设备

权利要求书

1.一种层析X射线照相组合方法(500)，包括：

从X射线源基本上连续地发出X射线的同时，在物体的层析X射线照相组合检查期间改变(504)X射线源和光子计数X射线探测器的相对位置；

生成(506)表示检查期间探测到的X射线光子的光子数据，其中所述光子数据包括多个被探测光子中每个光子的探测位置和探测时间；

通过相关信号处理将光子数据组合(508)到多个第一仓库内，以生成第一入仓数据；

使用(510)第一入仓数据生成表示物体的第一层析X射线照相组合数据；以及

以人可感知的形式显示(512)第一层析X射线照相组合数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多个第一仓库包括临时仓库。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述多个第一临时仓库具有相等的临时宽度。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述X射线源和探测器的相对位置沿具有中心部和远侧部的轨道变化，靠近中心部的临时仓库的临时宽度小于靠近远侧部的临时仓库的临时宽度。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述组合包括作为光子探测时间函数的光子数据。

6.根据权利要求1所述的方法，该方法包括：

将作为光子探测时间函数的光子数据组合到多个第二仓库内，以生成第二入仓数据；以及

使用第二入仓数据生成表示物体的第二层析X射线照相组合数据。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述多个第一仓库具有与所述多个第二仓库相等的宽度，并偏离多个第二仓库。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述多个第一仓库的宽度与所述多个第二仓库的宽度不相等。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述源和探测器的相对位置沿轨道变化，多个第一仓库的各个仓库与沿轨道的位置对应。

10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述组合包括将作为光子探测时间和光子探测位置函数的被探测光子组合到多个第一仓库内。

11.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述改变包括：改变所述X射线源和光子计数X射线探测器的相对位置，角度范围为从小于约60度至约120度。

12.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光子数据包括多个被探测光子中每个光子的光子能，所述多个第一仓库包括能量仓库。

13.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，被检查的物体基本上由人类乳房组成。

14.一种设备(100)，包括：

检查区域(130)，配置为选择性地接收被检查的物体(120)；

电离辐射源(122)；

光子计数X射线探测器(124)，探测电离辐射源(122)发出的穿过物体(120)的X射线；

驱动器(126)，配置为在检查物体(120)期间，沿轨道(410)改变电离辐射源(122)和X射线探测器(124)的相对位置，轨道的角度范围为从小于约60度至约120度；以及

光子数据处理器(108)，配置为生成光子数据，光子数据表示检查物体(120)期间X射线探测器(124)探测到的多条X射线中每条X射线的位置和探测时间。

15.根据权利要求14所述的设备，该设备包括配置为压迫被检查的物体(120)的压迫器。

16.根据权利要求14所述的设备，该设备包括入仓机(110)，配置为将作为探测时间函数的光子数据入仓。

17.根据权利要求16所述的设备，其特征在于，所述入仓机(110)配置为将作为位置函数的光子数据入仓。

18.根据权利要求14所述的设备，该设备包括入仓机(110)，配置为将光子数据入仓到50个以上临时仓库内。

19.根据权利要求14所述的设备，该设备包括用户界面，配置为接收表示层析X射线照相组合图像平面的数量和位置的人工输入；以及，入仓机(110)，配置为将作为数量和位置函数的光子数据入仓。