[发明专利]检测装置、检测方法、静脉感测装置、扫描探针显微镜、变形检测装置和金属检测装置

权利要求书

1.一种检测装置，其特征在于包括：

m个电极，用于产生至少环绕一条直线的m个旋转对称的电荷(m是大于或等于4的偶数)，其电荷总量基本为0；和

至少一个电场检测元件，用于检测直线上的电场。

2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于

所述m个电荷的相邻电荷的符号不同。

3.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于

所述m个电荷的绝对值彼此相等。

4.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于

电场检测元件及其电线被布置在所述直线上。

5.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于

所述m个电荷形成多极。

6.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于

所述m个电荷形成平面2n极(n是大于或等于2的整数)。

7.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于

所述m个电荷出现在正多面体或准正多面体的顶点处。

8.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于

所述m个电极当中的至少一个电极的位置的变化被检测到。

9.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于

在所述m个电极当中的至少一个电极上出现的电荷变化量被检测到。

10.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于

所述m个电极以外的电荷或物体被检测到。

11.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于

通过向所述m个电极施加交流电压而产生所述m个电荷。

12.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于

当通过向所述m个电极施加正弦波交流电压而产生所述m个电荷时，d＜＜λ/2π，其中λ表示正弦波波长，d表示形成所述m个电荷的偶极的长度。

13.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于

所述m个电荷是静态电荷。

14.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于

所述m个电极是点电极或平面电极。

15.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于

将所述m个电极作为一个基本单元，多个基本单元以一维或二维阵列排列。

16.一种检测待检测目标或者该待检测目标的状态变化的检测装置，其特征在于包括：

多个电场施加部件，用于将电场施加到该待检测目标；

电场检测部件，用于检测与该待检测目标相邻的检测区域的电场；和

处理部件，用于检测由该电场检测部件检测的检测区域的电场变化，并且检测该待检测目标或该待检测目标的状态变化，其中

当该待检测目标不邻近所述检测区域或者处于预定状态时，多个电场施加部件以下列方式施加电场：从多个电场施加部件施加的电场彼此变小，并且与该检测区域和该电场检测部件相邻的电场几乎达到0。

17.一种检测方法，其特征在于

产生至少环绕一条直线的m个旋转对称的电荷(m是大于或等于4的偶数)，其电荷总量基本为0，并且检测该直线上的电场。

18.一种静脉感测装置，其特征在于使用检测装置，所述检测装置包括：

m个电极，用于产生至少环绕一条直线的m个旋转对称的电荷(m是大于或等于4的偶数)，其电荷总量基本为0；和

至少一个电场检测元件，用于检测直线上的电场。

19.一种扫描探针显微镜，其特征在于使用检测装置，所述检测装置包括：

m个电极，用于产生至少环绕一条直线的m个旋转对称的电荷(m是大于或等于4的偶数)，其电荷总量基本为0；和

至少一个电场检测元件，用于检测直线上的电场。

20.一种变形检测装置，其特征在于使用检测装置，所述检测装置包括：

m个电极，用于产生至少环绕一条直线的m个旋转对称的电荷(m是大于或等于4的偶数)，其电荷总量基本为0；和

至少一个电场检测元件，用于检测直线上的电场。

21.一种金属检测装置，其特征在于使用检测装置，所述检测装置包括：

m个电极，用于产生至少环绕一条直线的m个旋转对称的电荷(m是大于或等于4的偶数)，其电荷总量基本为0；和

至少一个电场检测元件，用于检测直线上的电场。