[发明专利]电路板、电路板组件及误插入检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及包括形成导体布线的基板(Substrate)和该基板上安装的复数个连接器的电路板(Circuit Board)，以及包括该电路板的电路板组件和误插入检测装置。

背景技术

半导体集成电路元件等电子元件(以下简单地统称为DUT(Devie Under Test))的制造工序中，利用电子元件测试装置测试DUT的性能和作用。

该电子元件测试装置包括：具有与DUT电接触的插座的测试头、通过测试头测试DUT的测试机、将DUT依次搬送到测试头上并根据测试结果对测试结束的DUT分类的处理器。

历来已知的是，测试头包括安装插座的插座板和与该插座板电连接的性能板，这些板通过线缆连接。如此构成的测试头中，不论哪个板上都安装有很多连接器，可以从各个板装卸线缆。

发明内容

发明要解决的技术问题

然而，若同一个板上同一形状的连接器用于复数个用途，则存在误插入连接器的问题。如果在连接器误插入的状态下将DUT测试用电力供给至插座板，插座板上安装的电子元件有因高电压而致破坏之虞。

本发明要解决的技术问题在于，提供可防止连接器误插入的电路板、电路板组件及误插入检测装置。

解决技术问题的技术手段

(1)依据本发明，提供一种电路板，包括形成导体布线的基板和所述基板上安装的复数个连接器，其特征在于，所述连接器分别具有的复数个引脚包括通过所述导体布线相互电连接的一对检测用引脚(参照权利要求1)。

上述发明中，优选地，所述连接器的所述检测用引脚中至少一个检测用引脚的位置与所述复数个连接器中其他连接器的检测用引脚的位置不同(参照权利要求2)。

(2)依据本发明，提供一种电路板组件，包括具有形成第1导体布线的第1基板和所述第1基板上安装的复数个第1连接器的第1电路板，以及一端分别具有可与所述第1连接器嵌合的第2连接器的复数个线缆，其特征在于，所述第1连接器分别具有的复数个第1引脚包括通过所述第1导体布线相互电连接的一对检测用引脚(参照权利要求3)。

上述发明中，优选地，所述第1连接器的所述第1检测用引脚中至少一个第1检测用引脚的位置与所述复数个第1连接器中其他第1连接器的第1检测用引脚的位置不同(参照权利要求4)。

上述发明中，优选地，所述复数个线缆在另一端分别具有第3连接器，所述电路板组件还包括具有形成第2导体布线的第2基板和在所述第2基板上安装且可与所述第3连接器嵌合的复数个第4连接器的第2电路板(参照权利要求5)。

上述发明中，优选地，所述第2连接器分别具有的复数个第2引脚包括在对应所述第1检测用引脚的位置上配置的一对第2检测用引脚，所述第3连接器分别具有的复数个第3引脚包括通过所述线缆的导线与所述第2检测用引脚电连接的一对第3检测用引脚，所述第4连接器具有的复数个第4引脚包括在对应所述第3检测用引脚的位置上配置的一对第4检测用引脚，所述第4检测用引脚的一个通过所述第2导体布线与其他第4连接器的第4检测用引脚电连接(参照权利要求6)。

上述发明中，优选地，所述第2电路板的所有所述第4检测用引脚的组合通过所述第2导体布线串接(参照权利要求7)。

上述发明中，优选地，所述第3引脚还包括通过所述线缆的导线相互电连接的一对第5检测用引脚，所述第4引脚还包括在对应所述第5检测用引脚的位置上配置的一对第6检测用引脚，所述第4检测用引脚的一个通过所述第5和第6检测用引脚与其他第4连接器具有的第4检测用引脚电连接(参照权利要求8)。

上述发明中，优选地，还包括具有形成第2导体布线的第2基板的第2电路板，所述复数个线缆的另一端与所述第2基板直接连接(参照权利要求9)。

(3)依据本发明，提供一种误插入检测装置，用于检测电子元件测试装置中连接器的误插入，其特征在于，包括上述电路板组件、向所述电路板组件输入检测用信号的输入单元和基于来自所述电路板组件的所述检测用信号的有无来判断是否对所述电路板组件的测试用电力进行供给的判断单元(参照权利要求10)。

上述发明中，优选地，所述判断单元在从所述电路板组件输出所述检测用信号的情况下判断向所述电路板组件供给测试用电力，在从所述电路板组件未输出所述检测用信号的情况下判断不向所述电路板组件供给测试用电力(参照权利要求11)。

发明的有益效果