[发明专利]测试部单元以及测试头

说明书

技术领域

本发明涉及在电子部件试验装置中使用的测试头以及在测试头的本体部中可拆装地安装的测试部单元。

背景技术

在IC设备等电子部件的制造工序中，需要对最终制造的电子部件进行试验的试验装置。在上述试验装置中，通过被称为搬送器的电子部件搬送装置来搬送IC设备，使IC设备外部端子电气地接触到在测试头上设置的插槽的连接端子，使试验用主装置(测试器)进行试验。这样，对IC设备进行试验，分类成至少良品、不良品这样的类别。

在测试头上，一般设置测试部单元(有时还被称为Hi-Fix或者母板)。该测试部单元具备：测试板(performance board)，具有作为适配器的功能；以及插槽板(socket board)，与该测试板电连接，设置了一个或者多个插槽。该测试部单元是相对于测试头本体能更换地安装的。

此处，在测试头本体的内部设置了多个基板，但例如在基板中产生了不良状态时、或者被试验IC设备的品种更换时，必须从测试头本体拆下测试部单元而对测试头本体进行保养或者更换为其他测试部单元。

如图7所示，以往的测试部单元7P具备：测试部单元本体5P；以及在测试部单元本体5P的两侧部设置的把手6P。各把手6P包括：通过螺钉等固定在测试部单元本体5P上的2个托架62P；以及架设在这些托架62P之间的管状的把手杆63P。把手6P的长度与测试部单元本体5P的宽度大致相同。

发明内容

(发明要解决的问题)

由于测试部单元7P重约60kg，所以用把手6P拆下测试部单元7P需要4名操作者。但是，即使分别由2名操作员握持1个把手6P，这些把手也太短，并非适合于基于人体工学的产品重量的长度。因此，以往，不得不以不稳定的状态拆装测试部单元7P。

另一方面，由于如果使把手6P的长度比测试部单元本体5P的宽度长，则与其他构造物产生干扰，所以把手6P的长度的上限为测试部单元本体5P的宽度。

另外，把手6P中的管状的把手杆63P根据其规格，有时成为受到电磁干扰(EMI)的天线。

本发明是鉴于这样的情况而完成的，其目的在于提供一种测试部单元以及测试头，能够使把手成为适合于产品重量的大小，并且能够防止由于把手而受到电磁干扰。

(解决问题的方案)

为了解决上述问题，第1，本发明提供一种测试头的本体部中所安装的测试部单元，其特征在于，具有无需使用工具就可拆装的把手(发明1)。

根据上述发明(发明1)，由于把手能够拆装，所以如果在将测试部单元安装到测试头的本体部中之后拆下把手，则能够防止由于把手而受到电磁干扰，并且，即使在使把手成为适合于基于人体工学的产品重量的大小的情况下，把手也不会与其他构造物产生干扰。

在上述发明(发明1)中，也可以是，上述把手具备长条状的把持部(发明2)。

在上述发明(发明2)中，也可以是，上述把手的长度比上述测试部单元的宽度长(发明3)。由此，能够使把手成为适合于基于人体工学的产品重量的大小，所以操作者易于握持把手，因此，能够以稳定的状态相对于测试头的本体部拆装测试部单元。

在上述发明(发明1)中，也可以是，上述测试部单元在上述测试头的本体部中并列地安装了多个，针对上述多个测试部单元使用1组上述把手(发明4)。

在上述发明(发明1)中，优选地，上述把手通过使在上述测试部单元的平面方向上延伸的销以及孔嵌合，使在上述测试部单元的厚度方向上延伸的销以及孔嵌合，而安装在上述测试部单元的本体部中，通过使上述各销从上述各孔中拔出，而从上述测试部单元的本体部拆下(发明5)。

在上述发明(发明5)中，在测试部单元的厚度方向上延伸的销以及孔能够发挥锁定和解除把手相对于测试部单元的本体部的安装的功能。

在上述发明(发明5)中，也可以是，上述把手具备：第1销，在上述测试部单元的平面方向上延伸；以及第2销，在上述测试部单元的厚度方向上延伸，在上述测试部单元的本体部中形成有：第1孔，在上述测试部单元的平面方向上延伸；以及第2孔，在上述测试部单元的厚度方向上延伸(发明6)。

在上述发明(发明6)中，优选地，上述把手的第2销能够在上述测试部单元的厚度方向上移动，通过使上述第2销移动，进行上述把手相对于上述测试部单元的本体部的安装的锁定和解除(发明7)。