[发明专利]四极型质量分析装置有效
| 申请号: | 200880129385.4 | 申请日: | 2008-05-22 |
| 公开(公告)号: | CN102037538A | 公开(公告)日: | 2011-04-27 |
| 发明(设计)人: | 向畑和男 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号: | H01J49/42 | 分类号: | H01J49/42 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 四极型 质量 分析 装置 | ||
1.一种四极型质量分析装置,具备:离子源,其将试样分子离子化;四极质量过滤器,其选择性地使在该离子源中产生的离子中的具有特定质量的离子通过;以及检测器,其检测通过了该四极质量过滤器的离子,该四极型质量分析装置的特征在于,具备:
a)四极驱动单元,其对构成上述四极质量过滤器的各电极施加将直流电压与高频电压相加得到的电压;以及
b)控制单元,在以使通过上述四极质量过滤器的离子的质量依次改变的方式进行质量扫描时,控制单元控制上述四极驱动单元使上述直流电压以及上述高频电压的振幅与质量相应地依次改变,并且使得该直流电压与该高频电压的振幅之比与扫描速度相应地改变。
2.根据权利要求1所述的四极型质量分析装置,其特征在于,
对于相对大的扫描速度,上述控制单元使直流电压U与高频电压的振幅V之比U/V相对减小。
3.一种四极型质量分析装置,具备:离子源,其将试样分子离子化;四极质量过滤器,其选择性地使在该离子源中产生的离子中的具有特定质量的离子通过;以及检测器,其检测通过了该四极质量过滤器的离子,该四极型质量分析装置的特征在于,具备:
a)四极驱动单元,其对构成上述四极质量过滤器的各电极施加将直流电压与高频电压相加得到的电压;以及
b)控制单元,在以使通过上述四极质量过滤器的离子的质量依次改变的方式进行质量扫描时,控制单元控制上述四极驱动单元使得上述直流电压以及上述高频电压的振幅与质量相应地依次改变,并且使该直流电压的偏移与扫描速度相应地改变。
4.根据权利要求3所述的四极型质量分析装置,其特征在于,
对于相对大的扫描速度,上述控制单元使直流电压的偏移相对减小。
5.一种四极型质量分析装置,具备:离子源,其将试样分子离子化;四极质量过滤器,其选择性地使在该离子源中产生的离子中的具有特定质量的离子通过;以及检测器,其检测通过了该四极质量过滤器的离子,该四极型质量分析装置的特征在于,具备:
a)四极驱动单元,其对构成上述四极质量过滤器的各电极施加将直流电压与高频电压相加得到的电压;以及
b)控制单元,在以使通过上述四极质量过滤器的离子的质量依次改变的方式进行质量扫描时,控制单元控制上述四极驱动单元使得上述直流电压以及上述高频电压的振幅与质量相应地依次改变,同时使该直流电压与该高频电压的振幅之比也与质量相应地改变。
6.根据权利要求5所述的四极型质量分析装置,其特征在于,
对于相对大的质量,上述控制单元使直流电压U与高频电压的振幅V之比U/V相对减小。
7.一种四极型质量分析装置,具备:离子源,其将试样分子离子化;四极质量过滤器,其选择性地使在该离子源中产生的离子中的具有特定质量的离子通过;以及检测器,其检测通过了该四极质量过滤器的离子,该四极型质量分析装置的特征在于,具备:
a)四极驱动单元,其对构成上述四极质量过滤器的各电极施加将直流电压与高频电压相加得到的电压;以及
b)控制单元,在以使通过上述四极质量过滤器的离子的质量依次改变的方式进行质量扫描时,控制单元控制上述四极驱动单元使得上述直流电压以及上述高频电压的振幅与质量相应地依次改变,同时使该直流电压的偏移也与质量相应地改变。
8.根据权利要求7所述的四极型质量分析装置,其特征在于,
对于相对大的质量,上述控制单元使直流电压的偏移相对减小。
9.根据权利要求1~4中的任一项所述的四极型质量分析装置,其特征在于,
使加速电压与扫描速度相应地改变,该加速电压决定被导入到上述四极质量过滤器的离子的动能。
10.根据权利要求5~8中的任一项所述的四极型质量分析装置,其特征在于,
使加速电压与质量扫描时离子质量的变化相应地改变,该加速电压决定被导入到上述四极质量过滤器的离子的动能。
11.根据权利要求9或10所述的四极型质量分析装置,其特征在于,
在上述离子源与上述四极质量过滤器之间具备用于输送离子的离子输送光学系统,上述加速电压是上述离子输送光学系统与上述四极质量过滤器之间的直流电位差。
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