[发明专利]用于确定重复比特值样式的方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于确定重复比特值样式(repetitive bit value pattern)的方法和装置，更具体地，涉及用于确定数据字序列内的预定位置处的比特的重复比特值样式的概念，其中，所述重复比特值样式通过对所述数据字执行的程序表达式或运算而生成，所述程序表达式或运算更改或更新所述数据字的多个比特的内容。

背景技术

在广泛的应用领域，需要导出数据字的特定比特的重复比特值样式，这些重复比特值样式是由对这些数据字进行运算的操作或高级编程语言引起的。例如，可能希望以高效的方式存储诸如C或C++之类的高级编程语言的表达式结果。例如，如果计算程序循环，则很有可能8比特数据字的第二比特是常量或者以重复样式改变。该比特可以将其值重复地从0变为1。就存储效率而言，将循环所产生的比特序列与数据字的每个比特分开存储是合适的，这样，对于示例性的第二比特，完整的结果可以以算法方式存储，该算法方式指示比特序列“0 1”将被重复预定次数。

可替换应用可以是测试电子设备，例如，存储设备。当前可获得的电子装置或存储器的高速度可能需要独立于这些设备中其余的数据端子来测试其中一个单独的数据端子，以利用设备的最大带宽进行测试。这例如是包括大量数据端子的现有存储设备将要被测试时的情况。当每个数据端子被连接到存储器测试器或测试系统的单个测试引脚，并且其中每个测试引脚具有其自己的程序逻辑时，就存在导出每个单独的测试引脚处出现的比特样式的需要。随着测试程序复杂度增大，很希望确定与预定的测试或数据引脚相关联的重复比特值样式，使得重复比特值样式仅需要被存储一次，重复比特值样式用指示该程序的过程中所需要的重复次数的算法描述来关联。

之前用来确定重复比特值样式的方法，例如，在1996年Klaus-Dieter Hilliges和Jens Sundermann的标题为“A True Test Processor Per-Pin Algorithmic Pattern Generator”的IEEE公布中所描述的一种方法，提议首先评估程序的所有表达式以在通过该程序生成的结果比特流中搜索重复。然而，这需要在提取可能重复的比特序列之前就计算整个程序，这非常耗费时间和资源。

此外，在该方法之后，没有有关可能的重复比特值样式的长度的约束。因此，在通过完整地处理该程序所生成的比特流中搜索重复比特值样式也是非常费时的，因为必须考虑任意比特样式长度。

还有些方法试图将评估后的比特流组织到专门的数据结构中，以通过对这些数据结构执行某些对称操作来确定重复比特值样式。例如在之前引述的文档中可以采用这种方法。然而，对称操作的应用要求充足的资源，使得实时处理对于其他现有技术尝试也不可行。

因此，需要提供一种用于以更有效的方式确定重复比特值样式的方法和装置。

发明内容

根据本发明的若干实施例，可以针对数据字内的预定位置高效地确定重复比特值样式，这是因为与预定比特位置相关联的序列长度值在对程序内的程序表达式的评估之前就被计算出。序列长度值具有有关在所关心的比特位置处出现的比特值样式的最大重复长度的信息。

根据一些实施例，序列长度值是上限，这是因为，其是可能在相应比特位置处出现的重复比特值样式的最大长度。根据另一些实施例，序列长度值不仅仅是上限，而是精确地指示出现的重复比特值样式的长度。

当至少知道有序列长度值所指示的上限时，用于确定重复比特值样式的程序表达式仅需要被评估由序列长度值所指示的次数。即，在重复比特值样式的确定中，评估仅必须被执行有限的次数。这使得可以大大降低为确定重复比特值样式所需要的计算力。

换而言之，通过对改变比特值的程序表达式仅评估由序列长度值所指示的循环迭代次数来获得与预定比特位置相关联的更新后的比特值，就可以生成重复比特值样式。

根据另一些实施例，具有所关心的具体比特位置的数据字在一次循环迭代中被访问或改变若干次。在那些实施例中，循环迭代内的每个表达式可以被评估序列长度值所指示的次数以确定重复比特值样式。这可以包括级联每次迭代内所确定的更新后的比特值。

当重复比特值样式被确定时，从被分析的循环信息或表达式产生的比特值样式可以以有效方式被存储或被发送。例如，程序语言(高级程序语言)可以被变换成低级描述(重复语言表示或重复表示)，所述低级表示包括重复比特值样式以及指示特定重复比特值样式的重复次数的附加指令。