[发明专利]读取使能信号调整闪存装置和闪存装置的读取控制方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种闪存装置，更详细讲，涉及一种控制器，其控制闪存的读取操作及其方法。

背景技术

闪存是一种非易失性的内存装置，其耐冲击、可低功耗操作并具有高集成度。闪存通常作为用于便携式终端、嵌入式系统等的存储介质使用。最近，随着闪存价格下降，在通过连接多个闪存来提高闪存存储容量的固态硬盘(Solid State Disk：SSD)类型产品已经开发，而SSD已经在许多领域被用作用于硬盘的存储介质的替代物。

市场上可用的闪存具有大约8GB到64GB的容量，200us的内部作业时间，和25ns/字节的数据传播速率。因此，要将闪存用作相当于硬盘的大容量存储装置，必需通过连接多个闪存扩大带宽和容量。

普通的SSD包含多个闪存单元。SSD由独立运作的多个通道(channel)组成。此外，单一通道由共用一个总线(bus)的多个闪存库(bank)组成。单一库由共同一个地址总线并具有一条单独数据总线的至少一个闪存组成。

在单一通道的负读取使能(negative READ ENABLE：nRE)信号下降至0之后的预先确定的延时时间Td，读取数据开始被从芯片使能内存库输出至总线，在所述nRE信号上升到1之后的预先确定的延时时间Td，读取数据从总线消失。当读取数据被正常输出到总线时，要求计算机系统(主机系统或处理器)使用缓冲区读取数据。在这里，从正常读取数据占用总线时到计算机系统启动以读取数据时的时间被称为建立时间(setup time)。要求所述建立时间要充足，具体说来，要求建立时间与从每个闪存所需的时间一样多，以便计算机系统从总线正常地读取所述读取数据。

用于每个闪存的延时时间Td可不同。闪存装置的特性偏差(variation)或与计算机系统的距离偏差，可能会导致出现Td差异，甚至单一闪存中的Td也可能根据的运行环境如温度等不同。

当闪存装置的延时时间过长时，在计算机系统被要求从总线上读取所述读取数据时，在总线上正常读取数据可能无法出现。在这种情况下，据说闪存装置和电脑系统无法满足建立时间，且计算机系统读取的值是正常读取数据值是不可靠的。

由于固态硬盘成为大容量存储介质，更多闪存装置被连接在一起，且单一控制器或单一计算机系统控制闪存装置的情况有所增加。需要控制时点以减少读取误差的方法的发展跟上追求高容量和系统时钟高速度的趋势。

发明内容

技术目的

本发明的一个方面提供一种用于控制每个闪存的最佳读取时点装置和方法。

本发明的另一个方面还提供一种用于即使在闪存与高操作频率时钟一起执行时也可减少闪存读取操作错误的装置和方法。

此外本发明的另一个方面还提供一种在将许多闪存连接在一起以获得高带宽时，减少闪存读取操作错误的装置和方法。

技术方案

根据本发明的一个方面，提供了一种闪存装置，其包括：多个闪存单元；通用输入/输出总线，其与所述多个闪存单元的每一个相连接；和控制器，其将读取控制信号传播至从所述多个闪存中选择出的闪存单元，并经由所述通用输入/输出总线从所述选择出的闪存单元接收读取的数据，所述控制器与所述通用输入/输出总线相连接，其中，所述控制器，基于选择出的闪存单元对应的所述传播延时，调节所述读取控制信号单元的传播时点。

根据本发明的另一个方面，还提供一种闪存装置，其包括：闪存单元；和控制器，其将读取控制信号传播至所述闪存单元，并经由数据路由接收从所述闪存单元读取的数据，其中，所述控制器，基于对应所述闪存单元的传播延时，调整所述读取控制信号的传播时点。

仍根据本发明的另一个方面，还提供一种闪存装置，其包括：闪存单元，其存储测试模式；和控制器，其将所述测试模式相关的读取控制信号传播至所述闪存单元，并从所述闪存单元接收所述存储的测试模式，其中，所述控制器，检测在接收到的所述测试模式中是否有错误存在以搜索最佳读取控制时点，并基于检索到的读取控制时点，调整所述闪存单元相关的所述读取控制信号的传播时点。

仍根据本发明的另一个方面，还提供一种闪存装置读取控制方法，其包括：将测试模式相关的读取控制信号传播至闪存单元；从所述闪存单元接收所述测试模式；检验接收的所述测试模式中是否有错误存在；和根据所述检验的结果，调整所述测试模式相关的所述读取控制信号的传播时点。

技术效果

根据本发明的一个方面，提供一种调整每个闪存的最佳控制读取时点的方法。

此外，根据本发明，提供一种即使在闪存与高操作频率时钟一起执行时也可减少闪存读取操作错误的方法。