[发明专利]用于以薄膜技术制造光电子器件的方法有效

专利信息
申请号: 200880121612.9 申请日: 2008-11-21
公开(公告)号: CN101904021A 公开(公告)日: 2010-12-01
发明(设计)人: V·格罗利尔;A·普洛斯尔 申请(专利权)人: 奥斯兰姆奥普托半导体有限责任公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 胡莉莉;李家麟
地址: 德国雷*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 薄膜 技术 制造 光电子 器件 方法
【权利要求书】:

1.一种以薄膜技术制造光电子器件的方法,其中,

-在外延衬底(1)上制造针对光电子器件所设置的层结构(5,6,7),

-根据所设置的将台地划分成单个器件来结构化层结构(5,6,7),

-第一连接层(2)被涂敷到台地的上侧上,

-第二连接层(3)被涂敷在支承体(10)上,

-第一连接层(2)和第二连接层(3)彼此接触并且持久地彼此相连,以及

-外延衬底(1)被去除,

其特征在于,

-第一连接层(2)包括一种焊接材料或者更多种焊接材料。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,第二连接层(3)包括与焊接材料相比熔点更高的材料。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其中,焊接材料是共晶混合物。

4.根据权利要求1至3之一所述的方法,其中,第一连接层(2)借助剥离技术根据台地被结构化。

5.根据权利要求1至4之一所述的方法,其中,第一连接层(2)包含锡。

6.根据权利要求5所述的方法,其中,第一连接层(2)包含金和锡。

7.根据权利要求1至4之一所述的方法,其中,第一连接层(2)包括金和铋。

8.根据权利要求1至4之一所述的方法,其中,支承体(10)是锗,并且第一连接层(2)和第二连接层(3)包括金。

9.根据权利要求1至4之一所述的方法,其中,支承体(10)是硅,并且第一连接层(2)和第二连接层(3)包括金。

10.根据权利要求1至9之一所述的方法,其中,第一连接层(2)被涂敷在阻挡层(7)上,并且该阻挡层(7)包含Ti或者TiW。

11.根据权利要求1至10之一所述的方法,其中,第二连接层(3)包括Ti/Pt/Au。

12.根据权利要求1至11之一所述的方法,其中,台地的边缘用含有硅的钝化层(8)来覆盖。

13.根据权利要求1至12之一所述的方法,其中,第一连接层(2)仅仅在选择的台地上被制造并且在将第一连接层(2)和第二连接层(3)彼此连接之后仅仅将这样连接的台地从外延衬底(1)去除。

14.根据权利要求13所述的方法,其中,保留在外延衬底(1)上的台地的整体或者保留在外延衬底(1)上的进一步选择的台地事后被配备有第一连接层(2)并且被转移到配备有另外的第二连接层(3a)的另外的支承体(10a)。

15.根据权利要求13或14所述的方法,其中,转移到支承体(10,10a)上的台地借助激光剥离方法从外延衬底(1)被剥离。

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