[发明专利]检测工作存储器的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于检测工作存储器，特别是变频器的控制电路和调节电路的工作存储器的方法，该工作存储器具有存储单元矩阵、用于对该存储单元矩阵进行寻址的装置以及开关/读开关电路。

背景技术

这种工作存储器属于现有技术并且几乎在每个数字电路中都可以见到。在此，工作存储器为半导体存储器，例如Ram芯片，其除了实际的存储单元的矩阵还具有用于借助地址总线对单元进行寻址的地址编码器以及通过数据总线写入及读取数据的开关电路/读取电路。对于寻址和单元矩阵本身来说，最小的变化、特别是芯片中的污染、温度变化等都会导致错误。因此，在接通或启动(Hochfahren)每个设有这种工作存储器的设备时大多数情况下在开始阶段借助自测试来完全检测工作存储器属于现有技术，更确切地说，对地址编码器和地址总线的功能完美(einwandfrei)以及单独的存储单元的功能完美进行完全检测。此种检测在现有技术中典型地在一次运行的测试中进行，在此测试中两种功能结合从而一同被检测。这种测试方法是完全公知的，例如为March-X测试。

然而，这种公知的测试方法的缺陷在于，其需要较多的时间并且由于其结构而使得在测试期间所有待检测的工作存储器不可用。

然而，存在许多应用，在这些应用中，为了充分地确保与存储器一同工作的设备的运行安全，这种在接通后开始的存储器测试还不够。这例如是在不关断服务器的情况下，以及在用于长时间不间断运行的电机等的数字开关的情况下。由专利文献US 5,461,588可知在现有技术还包括设置额外的辅助存储器，在该辅助存储器中可以存储恰好要进行检测的那部分工作存储器中的数据。然而，在此描述的方法对于在存储器运行期间的存储器测试仅受限地适用，因为数据虽然在测试期间中间存储在辅助存储器中并随后再被写入工作存储器中，但是在数据发生变化的情况下会出现问题。此外，其还需要该附加的、否则就无法工作的工作存储器以及相应的控制器功能，以进行中间存储和回存。

发明内容

基于这些现有技术，本发明要解决的技术问题在于，提供一种用于检测工作存储器的方法，该方法对控制器仅尽可能短地造成负担并且对计算性能尽可能小地造成负担，从而使该方法在运行的操作中也能执行。此外，还提供一种尤其用于检测变频器的控制电路和调节电路的工作存储器的方法，该方法使得能够在运行期间检测工作存储器，从而能够将工作存储器与安全相关的功能绑定。

根据本发明，上述目的通过权利要求1所述的特征实现。从属权利要求、以下的说明以及附图给出了所述方法的有利的设计方案。

根据本发明的用于检测工作存储器、特别是变频器的控制电路和调节电路的工作存储器的方法，该工作存储器具有存储单元的矩阵、用于对该存储单元矩阵进行寻址的装置以及电路/读电路，在一个步骤中检测用于寻址的装置的至少一部分的地址错误，在另一个步骤中检测存至少一部分储单元的单元错误，在此，这些检测步骤在时间上彼此无关地执行。

在本发明的意义下对存储单元矩阵进行寻址的装置应该理解为，在控制器与存储单元矩阵之间所需的、以执行必要的寻址的装置。为此，该装置典型为地址总线，该地址总线的导线例如可以通过晶体管控制并由此设置成1或0，以及例如地址编码器等。在此范围内可能出现的错误应该通过一个步骤来检测，而以另一步骤来检测存储单元自身。

因此，本发明的主旨在于，以在时间上彼此无关的单独的步骤来进行存储器测试，从而例如当工作存储器的一部分恰好不需要或由于其他原因而可用于进行检测时，也可以在运行的操作中执行这些步骤。在此，根据本发明的方法原则上设置了两个在时间上以及顺序上都彼此无关的检测步骤。在此，检测的划分设置成：一种检测针对用于寻址的装置、例如地址总线和地址编码器的地址错误，以及一种检测针对存储单元的单元错误的。根据技术应用及需求，两种检测可以分段带有中断地执行，或完全相继地执行，也可以分段相继地进行。

可惊奇地发现，当在综合的测试中检测地址总线/地址编码器的错误时，与根据现有技术的检测方法所需的检测时间相比，不仅对于各个子检测步骤，而且对于检测步骤的总和来说，根据本发明以前述子检测步骤执行工作存储器检测都能明显减少所需的检测时间。

有利的是，在检测地址总线/地址编码器的一部分的地址错误之后检测存储单元的一部分的单元错误，此后检测地址总线/地址编码器的另一部分的地址错误以及随后检测存储单元的另一部分的单元错误，等等。在此，地址总线/地址编码器和存储单元的相继检测的部分不必是一致的。